中古 ACCRETECH / TSK UF 200 #9255180 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200は、多数のICタイプと生産ラインにわたる半導体ICテストのための最も包括的で厳しい要件を満たすように設計および開発されたプローバです。このプローバは、高性能の回路およびパッケージコンポーネントの精密テストおよびプロービング機能を提供します。この装置は、すべてのIC製造プロセスの要件を満たすように設計されています。高速深度プロービング、微細機能プロービング、プロセス制御プロービングを生成することができます。さらに、その大きな作業エリアと高いサンプルステーションのスペースは、BGA、 μ BGA、 TSOPを含むすべての種類のICを収容することができます。このシステムは、0。020"、0。50mm、 01。27mm半導体プローブ、プローブカード、据え付け品など、さまざまな設計要件の要求を満たす広いダイナミックプロービングレンジを備えています。さらに、さまざまなアライメントおよび測定オプションを備えているため、迅速なテストと歩留まりの向上が得られます。このユニットは高速データ収集機能を備えており、手作業による手作業による編集を最小限に抑えながら、最大限の柔軟性と精度を提供します。このプローバは、データの取得と処理を容易にするために、プローバーや測定システムなどのサードパーティ製デバイスに接続することもできます。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えており、ユーザーはテストパラメータを設定、監視、カスタマイズできます。このマシンは、サンプルをドライブからテストツールに正確に輸送することができ、手動でのロード時間とインスタンスの必要性を減らすことができます。この機能により、より高い量子量のウェーハレベルのテストが可能になります。さらに、この資産は高度に自動化されており、自動テストパラメータ、ストリームアクティビティ、リアルタイムエラーチェックを組み合わせて精度を向上させます。このモデルはまた、エンドユーザーに正確なフィードバック値を提供し、テストプロセスを妨げません。このプローバは、生産環境の厳しさに耐えるように設計されており、サンプリングが安定した効率的な速度で進行することを保証します。さらに、IC試験プロセスを包括的に制御できる包括的な制御装置が付属しています。このシステムは、内蔵のデータ転送機能を使用して、1回に最大65,536テストポイントの正確な測定を監視するために使用できます。全体として、TSK UF 200 proberはICテストとプロービングのための効率的で信頼性の高いソリューションです。