中古 ACCRETECH / TSK UF 200 #293626668 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200は、半導体デバイスおよび材料の非侵襲的評価および分析用に特別に設計されたプローバです。基板やデバイスを損傷することなく、低衝撃プロービングが可能です。Proberはユニークな真空補助延長装置を備えており、最新の半導体パッケージ内の狭いスペースに最適化されています。このシステムはまた、基板上の薄いサンプルパッドとの信頼性の高い接触を保証します。TSK UF 200は、サンプルへの負担や応力を最小限に抑えて正確な接触信号を生成する低力測定ユニットを誇っています。表面損傷を最小限に抑え、半導体特性を正確に評価することができます。プローバはプリセットと自動検出も提供し、プロセスをさらに簡素化します。ACCRETECH UF200は、静電チャック（ESC）と連携して動作し、効果的な接地を提供し、電子部品を損傷するリスクを低減します。統合されたESCは、プローブに対して完全な垂直位置でサンプルを保持することができるため、測定中に表面が損傷しないままになります。この機能は、フリップチップなどのデバイスや材料にとって特に重要です。TSK UF200は、高精度のプロービング能力によりアクセス困難なプロービングサイトに到達することができます。また、独立した位置合わせツールによる熱膨張やその他の外力によるサンプルの物理的な変化にも対応できます。高精度のプロービング機能に加えて、ACCRETECH/TSK UF200は市場のさまざまなプロービングツールと互換性があり、ユーザーは個々のニーズに合わせてプロービングプロセスをカスタマイズできます。UF200は、半導体物質の電気的・物理的性質を正確かつ迅速に解析することができます。これは通常、ディスクリート半導体コンポーネントまたは集積回路のいずれかを評価するプロセスで使用されます。この汎用性の高いProberは、さまざまなソフトウェアアプリケーションやハードウェアコンポーネントライブラリとも互換性があり、ユーザーは必要に応じてカスタムプロービングプロセスを作成できます。UF 200はユーザーの安全性と利便性を考慮して設計されています。比較的使いやすくセットアップも簡単で、複雑なメンテナンスは不要です。さらに、Proberにはセルフモニタリング機能が搭載されており、プロセスがスムーズかつエラーなく実行されるようにします。