中古 ACCRETECH / TSK UF 200 #293615530 を販売中

ACCRETECH/TSK UF 200は、表面非破壊電気試験を行うように設計されたプローバです。半導体材料およびデバイスの電気特性を迅速かつ正確に測定し、問題を特定するように設計されています。このプローバは、薄型ウェーハおよび超微細ピッチデバイスのテストニーズをサポートするように特別に設計されています。このプローバは、半導体材料の準静的誘電特性を低周波および高周波で正確に測定できる誘電力顕微鏡（DFM）を備えています。また、測定および試験プロセス中に温度安定性を維持するための作動力温度コントローラ（AFTC）も備えています。DFMとAFTCの組み合わせにより、温度変動に関係なく半導体材料やデバイスの電気特性を正確に測定することができます。プローバーには高解像度の光学顕微鏡とデジタルビデオプロセッサが搭載されており、ユーザーはウェーハやデバイスの微細な特徴を観察することができます。また、高度な制御ソフトウェアパッケージを備えており、テスト角度や最適な信号キャプチャのための力など、すべてのデバイスパラメータを直感的に制御できます。また、プローバーには自動セルフセンタリングユニット校正（SUC）システムも搭載されており、プローバーの先端をサンプルエッジに正確に配置して中心に配置することができます。これにより、ミスアライメントと不正確なプロービングが発生しないことが保証されます。Proberには、テスト中にユーザーが安全であることを可能にするいくつかの安全機能も含まれています。これらには、振動および音響信号、視覚表示、および安全でない状態が発生したときの可聴アラームが含まれます。TSK UF 200 proberは信頼性が高く、再現性が高く、正確な試験結果を提供します。ウェハテスト、建築試験、開放欠陥および短絡欠陥の検出、ワイヤーボンディングの解析、デバイス特性評価、CAD設計、半導体材料の準静的誘電特性の測定に最適なソリューションです。