中古 ACCRETECH / TSK UF 200 #293615528 を販売中
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ID: 293615528
ヴィンテージ: 1997
Prober
(25) Cassettes: 100M HD
LCD Display, 10"
Support standard
Real time wafer map display and print
Standard TTL I/F
Auto Pad Alignment unit (Auto Setup)
Probe mark inspection
Chuck: Nickel, 8"
Multi-site probing function 3-64 dies
Fail mark inspection
Hot chuck and controller
Manipulator
Auto Card Change
Printer
Right loader with cover
1997 vintage.
ACCRETECH/TSK UF 200は、試験片デバイスの光学、RF、および高速電気特性評価のための信頼性の高い正確な測定を提供するように設計されたプローバです。このプローバはマルチモードテスト用の複数のモジュールで構成されており、最大10GHzのスキャン速度で最大500KHzの高速信号を繰り返し測定することができます。TSK UF 200は、コンパクトでポータブルな設計と効率的で拡張性を備えており、ユーザーは自分のニーズに合わせてシステムを素早くカスタマイズできます。ダイナミックアライメント機能を搭載し、高速・高周波環境でも高い精度と安定性を維持します。また、4点式プローブカード、光学顕微鏡、電子顕微鏡、偏光顕微鏡など、高精度の高解像度光学測定・イメージングシステムを備えています。ACCRETECH UF200は、最新のデジタル、アナログ、RF試験装置を備えた高度な制御システムを備えており、Sパラメータ、VSWR、挿入損失、リターンロス測定などの信頼性の高いリアルタイムテストを実行できます。さらに、高度なビジョンと直感的な操作ガイダンスシステムを備えており、ユーザーエクスペリエンスを向上させます。プローバは、高速デバイス実装、ダイナミックアライメント、高速パッケージインタフェース試験、挿入力測定、損傷デバイス検出の光学検査など、多くの自動テスト機能を採用しています。また、複数のパッケージを一度にテストすることができ、複数のタイプのチップパッケージを同時にテストすることができ、デバイスのテストとデバッグのためのタイムセービング対策を提供します。さらに、TSK UF200は世界標準に準拠しており、自動車、通信、医療、消費者、IoTテストなど、さまざまなアプリケーションに適用できます。振動や衝撃に強い堅牢な構造を特徴とし、過酷な環境下でも安定しています。ACCRETECH UF 200は包括的なテストを提供し、デバイスの特性評価に非常に費用対効果の高いソリューションです。これは、信頼性の高い正確な測定を提供しながら、テスト時間とコストを削減するように設計されています。このプローバは、研究室と生産ベースの両方のテストに適しており、幅広いデバイス特性評価ニーズに対応する強力で使いやすいツールを提供します。
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