中古 ACCRETECH / TSK MHF 400 #9194866 を販売中

ACCRETECH/TSK MHF 400は、半導体・電子業界の薄膜分析用に設計されたプローバで、抵抗、静電容量、光学、微小欠陥、薄膜測定、誘電体の定数測定など、さまざまなウェハ表面のさまざまな機能を検査するために使用されます。Proberは、取り扱いやクリーニングなどの中間工程を必要とせずにサンプルを直接測定できる高度なシステムを使用しています。プローバは6インチのウェーハ容量を持ち、ウェーハ表面のさまざまな要素を数分で迅速かつ正確に測定することができます。高感度フィードバックシステムにより、表面解析の高精度をさらに実現します。Proberには、洗練されたユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）も装備されています。これにより、オペレータは幅広いパラメータを簡単に操作し、測定結果を表示できます。GUIには、電源の状態、ウェハテストの状態、プローバ環境の温度など、さまざまな機能を監視できる多くの機能があります。高解像度のモニタリングとフィードバック機能に加えて、光学ズーム、オンボードメトロロジー、電気テスト、マイクロラマン測定など、さまざまな操作機能も提供します。光学ズーム機能により、オペレータはウェーハをズームインして、その機能の詳細を極めて正確に調べることができます。オンボードメトロロジーは、プローバーの組み込みシステムを使用して、ウェーハ上のさまざまな機能を正確に再現可能に測定します。次に、これらの測定値を使用して、該当する業界標準に準拠することができます。TSK MHF 400の電気試験機能は、ウェハの抵抗と容量をテストする高度なソリューションを提供します。また、敏感な表面材料スキャンアルゴリズムを備えており、オペレータはウェーハの特性をリアルタイムで観察することができます。マイクロラマン機能により、ウェハ表面の物理的性質を微細レベルで調べることができます。洗練されたデザインと高度な機能により、ACCRETECH MHF400 proberはさまざまな要求の厳しいアプリケーションに最適です。直感的な設計により、経験の浅いオペレータでもプローバの機能を最大限に活用でき、ウェーハの特性を簡単に迅速かつ正確に測定することができます。