中古 ACCRETECH / TSK MHF 300 #9243758 を販売中

ACCRETECH/TSK MHF 300は、ウェーハ、IC、その他の半導体デバイスのパラメータを正確かつ迅速に測定するために設計されたプローバです。3D ICの高精度プロービングと試験が可能な完全自動化された装置です。Proberには、7層の断面垂直平面やオンボードデータ処理システムなど、多くのハードウェアおよびソフトウェアコンポーネントが含まれており、正確で効率的な測定結果を提供します。TSK MHF 300の垂直平面は、据え付け品、調節可能なスペーサ、誘導ピンヘッド、およびエアパッドで構成されています。治具は、ICまたはウェーハを収容するためのプラットフォームです。調節可能なスペーサは、ICまたはウェーハの幅に合わせて設計されており、ピンヘッドを配置できます。誘導ピンヘッドは、ウェーハ/ICに挿入された整列ピンを保持してパラメータを測定します。エアパッドは、ピンヘッドとIC/ウェハの間の望ましくない接触を防ぐのに役立ちます。ACCRETECH MHF 300には、フィールドプログラマブルゲートアレイ（FPGA）、アプリケーション固有の集積回路（ASIC）、データトレースコントローラチップ（TTC）を含むオンボードデータ処理ユニットがあります。この機械はデータの速く、正確な分析を保障し、精密な測定の結果を提供します。FPGAはデータを迅速に処理し、ASICはデータをコンパイルしてリアルタイムの結果を生成します。TTCは、測定プロセス中に収集された複数のデータサンプルの保存と分析を可能にします。さらに、MHF 300は高いダイナミックレンジと広い周波数応答を提供します。プローバーに使用されるピンには5ギガピクセルカメラが装備されており、高精度の測定が可能です。カメラはまた、正確な結果を確保するために微細な動きや小さな変位を検出するために利用されています。また、ACCRETECH/TSK MHF 300は温度試験に対応しており、温度依存パラメータや現象の評価が可能です。TSK MHF 300は、ウェーハ、IC、その他の半導体デバイスの精密かつ効率的な試験に有効なツールです。その垂直平面とオンボードのデータ処理ツールは、正確なデータ測定と分析を保証し、その高いダイナミックレンジと広い周波数応答は正確な結果を提供します。カメラと温度試験の助けを借りて、それは効果的により正確な結果を得るために小さな違いや障害を検出することができます。