中古 DNS / DAINIPPON SD-80BW-AVQ #293597087 を販売中

DNS/DAINIPPON SD-80BW-AVQは、電子部品等の高速露光を目的としたフォトレジスト装置です。ビームスキャン方式を採用し、正確かつ正確な露光機能を提供する自動システムです。MDS （Multi-Decelerator Shutter）とフォーカス無線周波数（RF）露出を備え、広域光露光制御を備えています。機械はサンプルの最もよい露出を提供するのに脈打ったキセノンアークランプを使用します。これにより、幅広い露光パラメータに対応し、厚さや構造の異なる異なる材料の露出を可能にします。露光時間はMDSシャッターで正確に制御できます。MDSは露出特性が高く、スキャンあたりの露出時間は最大0。1秒です。このツールは、広域光露光制御アセット（WAEC）で設計されています。WAECは3nmまでの露出精度を提供し、極小基板やMEMS（微小電気機械システム）に適しています。広域露光制御は、絞り、シャッタースピード、露光時間を調整することにより、ユーザーに優れた露光オプションを提供します。これにより、ユーザーは特定のニーズに応じて露出を最適化することができます。また、Opto-Electronic Cleaning （OEC）装置を搭載しており、露光前にサンプルからほこりなどの粒子を除去します。OECシステムは、露出プロセスを妨げる金属、炭素、その他の汚染物質などの粒子を除去するように設計されています。これにより、接着性が向上し、露出の質が最大化されます。DNS SD-80BW-AVQは、基板表面の詳細な画像を提供する自動リアルタイム表面検査ユニットを備えています。リアルタイムの表面検査により、均一な露出が保証され、異なる厚さと構造の基板が均等に露出することが保証されます。露出補正機能を搭載し、不均一な露出をピクセル単位で補正します。このツールには、露出設定、露出時間、露出制御を管理および監視できる一連のソフトウェアツールとユーザーインターフェイスが付属しています。ソフトウェアには、内蔵ジョブリスト、波形監視と制御、および自動レンズ制御が含まれています。これらのソフトウェアツールを使用すると、ユーザーは特定のニーズに合わせた露出設定を作成できます。DAINIPPON SD-80BW-AVQフォトレジスト資産は、高性能と信頼性を提供し、幅広い基板および露光要件に適しています。自動化されたOECおよび表面検査システムは、正確で均一な露出を保証し、WAECおよび露出補正機能は露出精度を向上させます。ユーザーインターフェイスとソフトウェアツールにより、露出設定を簡単に管理し、露出進行を監視できます。これらのすべての機能は、電子部品とMEMSの信頼性と正確な露出にSD-80BW-AVQ理想的な選択肢です。