中古 TERADYNE 1888 #9020548 を販売中

TERADYNE 1888は、テストサイクル時間を短縮し、テストスループットを向上させるために、高速で信頼性の高いテストを提供するように設計されたPCボード試験装置です。このシステムは、最適化された高速ファインピッチプロービングアーキテクチャを備えており、高密度部品での短いテスト時間を可能にします。業界最高密度のプローブカードを使用しながら、最高の信号整合性を実現する正確な並列ピンテストプロービングを提供します。卓越したピン検出機能とフォルト絶縁機能を組み合わせた1888は、最高の信号整合性レベルで最大のテストカバレッジを提供します。このユニットの高性能は、数十のプローブから同時にテストパルスを適用する高速パラレルピンテストプロービングによって可能になります。これにより、過剰駆動を最小限に抑えて高い信号整合性を実現し、全身ノイズを低減し、正確な試験結果を保証します。このマシンはまた、時間制限のあるフォルト絶縁パルス・オン・パルス・オフ・コールバック・テストなどの複雑なテストをサポートしており、フォルト絶縁された高ロジック・テスト・アプリケーションのテスト時間を大幅に短縮できます。テストボード用の高速移動システムも、TERADYNE 1888の熱管理アルゴリズムの恩恵を受けています。各コンポーネントの温度を検出し、プリセットアルゴリズムを使用して最適なテスト条件を決定することにより、このツールはより迅速で信頼性の高いボードテスト結果を提供できます。さらに、Functional/In-Circuit Testing （FICT）などの高度なテストをサポートし、試験カバレッジを向上させます。アセットはまた、モデル付属品の配列で信頼性と汎用性を保証します。統合されたテストステーションの近くに付属品を収容する装置の能力はセットアップおよび制御を簡単にし、テストセルの余分なキャビネットの必要性を除去します。また、マシン実行可能なテストスクリプトとリモートテストヘッドコントロールとのモジュラーテストインテグレーションも提供しています。さらに、Cベースのオンボードプログラミングによる高度なプログラミングとデバッグをサポートし、テストとデバッグの精度を向上させます。1888年の高度なテスト機能は、スケーラブルなアーキテクチャによって補完されています。PXIまたはVMEへの拡張性を提供し、システムとともに拡張できます。複数のインターフェイスとマシンをサポートし、複数のテストシステムを同時に制御できます。優れた信号整合性と高速テスト時間を兼ね備えたこれらの機能は、基板テストアプリケーション向けの究極のテストソリューションを提供します。