中古 AERONCA WIS MDL 150 #9227022 を販売中

AERONCA WIS MDL 150は、ミクロンレベルからミリメートルレベルまでの粒子をカウントおよびサイズする粒子カウンターです。遠隔操作が可能な危険な環境でのサンプリングに適しています。MDL 150には、0。3〜3。5ミクロン、>3。5〜35。0mmの2つの測定範囲があります。最先端のレーザー技術を使用して、粒子の正確なカウントとサイズ測定を提供します。MDL 150にはタッチスクリーンディスプレイが内蔵されており、ハンドヘルドプローブまたはラップトップコンピュータを使用して操作できます。データ収集とストレージ用のメモリカードスロットと、ホストノートパソコンへのUSB接続を備えています。典型的なアプリケーションには、過酷で危険な環境での粒子レベルの監視、製造プロセスの監視、清浄度テスト、屋内空気品質監視、産業プロセスの監視が含まれます。MDL 150は、粒子の正確な測定のための革新的なレーザー技術を利用しています。その大きなダイナミックレンジ内の粒子を光学的に検出およびサイズ化し、± 3％の精度で粒子を正確にカウントおよびサイズに設計されています。MDL 150には、粒子サイズと個数の変動を検出するための選択可能な変動モードもあります。それはEN 61326およびATEXの標準、また他の安全および質の標準に証明されます。また、EN規格に従って最大許容粒子数を満たすように設計されています。MDL 150パーティクルカウンターにはセルフテスト機能もあり、オペレータはデバイスの精度性能と動作機能を確認することができます。MDL 150は、危険物質が存在する可能性のあるアクセス困難な環境での使用を目的として設計されています。産業用空気ろ過システム、プロセス監視、食品または医薬品の汚染の検出、大気品質監視、クリーンルーム試験などのプロセスでの使用に最適です。WIS MDL 150は、さまざまな産業用途に適した高精度なパーティクルカウンターです。最先端のレーザー技術を活用し、精度3％の精度で正確なパーティクルカウントとサイジングを±しています。それは危険な区域で使用のために設計され、データストレージおよび獲得のためのメモリカードスロットそしてUSBの接続性が付いている作り付けのタッチ画面の表示を備えています。MDL 150はEN 61326およびATEX規格に認定されており、プロセス監視、汚染検出、クリーンルーム試験、および大気品質監視での使用に最適です。