中古 ZYGO / IBM SXM-200 #150544 を販売中
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ID: 150544
ヴィンテージ: 1998
Atomic force microscope (AFM)
Input power: 115VAC, 50/60HZ, 10A
Includes computer control and programmability of surface scanning
Includes marble slab vibration dampening base
De-installed
1998 vintage.
ZYGO/IBM SXM-200走査型電子顕微鏡(SEM)は、材料科学、生物学、工学の分野で顕微鏡イメージングに使用される高度なイメージングツールです。高解像度、高スループット、高速リフレッシュレートを備えています。新世代のFASTスキャンミクロンスポットガン、モノクロCCDカメラ、ミニチュアサンプルステージを搭載。SEMには高解像度静電レンズ装置が搭載されており、詳細な画像処理が可能です。ビーム電子エネルギーは、原子番号の低い材料であっても、感度の高い標本を撮影するために30KVまで調整可能です。高い電子ビーム力により、小さな特徴の高分解能イメージングを可能にし、標本の詳細な画像を確保します。IBM SXM-200には、10mm試料ステージが自動化されています。この段階では、X方向とY方向に1ミクロン単位で標本を移動させることができるため、非常に小さな領域を正確に撮影することができます。このステージには、高解像度エンコーダと絶対位置制御システムが装備されており、微細な機能が正確にキャプチャされます。ZYGO SXM-200には、試験片の汚染を制御および監視するための自動ユニットが付属しています。このマシンは、スキャン中のサンプル汚染の可能性を最小限に抑え、スキャン間の試料チャンバーの汚染を低減するように設計されています。さらに、SXM-200は様々なオプションの分析および測定ツールを提供しています。X線分光計は、元素分析から化学分析まで、幅広い分析機能を提供します。二次電子検出器と逆散乱電子検出器は、表面イメージング、および近表面層のイメージングに高い感度を提供します。ZYGO/IBM SXM-200は使いやすく、メンテナンスも簡単で、非常に詳細な材料標本の分析に最適です。これは、材料科学、生物学、工学の分野の科学者やエンジニアにとって重要なツールです。
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