中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Nanoscope III SPM / LSSF / DMLS #128345 を販売中
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ID: 128345
ヴィンテージ: 1994
Atomic force microscope
Nanoscope III SPM and controller
LSSF large sample scanning stage with 6" x 6" XY travel
Optical microscope for defining the region to be scanned
Acoustic enclosure
DMLS probe
PC and monitors
1994 vintage.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTSナノスコープIII SPM/LSSF/DMLSは、高度な電子光学系を使用して表面の非常に精密なイメージングとプロファイリングを可能にする革新的なスキャンプローブ顕微鏡です。これは、光学顕微鏡で見るには小さすぎるサンプルの高解像度イメージング用に設計されており、さまざまな用途に対応するさまざまなイメージング技術を備えています。その主な特徴の1つは、さまざまな表面フィーチャーの分析を可能にする幅広いイメージングモードです。システムの中心に位置する光学カラムは、3次元でサンプルをスキャンすることができます。レーザー干渉計を利用することで、サンプル全体に正確に配置でき、25ナノメートルのサイズの画像処理が可能です。また、Nanoscope IIIでは、電界放射走査電子顕微鏡(FESEM)や表面応力およびチップ分析(LSSF)を用いて、サンプルの全球的な表面応力とその材料チップの動態を解析することができます。この機能を使用すると、研究者は、サンプル表面が機械的および環境的な力に応答してどのように振る舞うかを理解することができます。DMLS (Differential Dynamic Microscopy)は、サンプルの表面波に関連する変位を直接イメージングすることができます。これらの機能に加えて、自動的にフォーカスを復元するための自動フィードバックループも備えており、繰り返し可能な反復可能な画像を取得しやすく、リアルタイムの画像取得を可能にするオプションのプリスキャンモードを備えています。ナノスコープIIIは、幅広い用途に対応した高性能顕微鏡システムです。小型構造物のイメージングと解析、その機械的特性の決定、薄膜の表面や欠陥の解析、新製品の開発に重要な情報の抽出に適しています。Nanoscope IIIは、強力な電子光学と解析ソフトウェアを組み合わせることで、研究者に高精度の画像と測定結果を提供できる装置を提供します。
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