中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100V #9249374 を販売中

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100V
ID: 9249374
Atomic Force Microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100Vは、さまざまな分野のサンプルを詳細に分析するために特別に設計された高性能スキャンプローブ顕微鏡です。この顕微鏡は、ユーザーが幅広いサンプルや領域から高解像度のデータを取得するのに役立つ次世代スキャンシステムを提供します。3100Vは、原子力と光学顕微鏡技術の両方を利用して、サンプルの特徴とサブミクロンの詳細にアクセスできます。最大100nmのチップスキャン範囲、極端な高い信号対ノイズ比、および高効率光学により、アクセスできない場所から高品質のデータを取得できます。VEECO Dimension 3100Vは、数ナノメートルから数十ミクロンまでの大きなダイナミックレンジのスキャン解像度を備えています。これは、表面や材料を調べるときに非常に細かい詳細をキャプチャし、分析するのに役立ちます。さらに、システムの柔軟性と高速スキャンイメージング機能は、単一の実験で多くのサンプルを捕捉し、従来の顕微鏡法よりも改善された結果を得るのに役立ちます。3100Vには、ユーザーエクスペリエンスを最適化するための複数のモードと多くの異なるコンポーネントのアクセサリが含まれています。複数の顕微鏡技術をサポートするために、電動X-Y-Zコントローラを備えた統合SEMステージを備えています。さらに、液体セルホルダーや傾斜光学系を含む幅広いプローブを選択することで、ユーザーは研究対象の個々のサンプルに機器をカスタマイズすることができます。3100Vは、高コントラストの画像と正確なデータを提供するように設計されたオールインワンの機器です。高品質のデータは、自動スキャン、および取得モードの自動化のフルレンジを通じて提供され、迅速かつ正確に画像をキャプチャします。高速スキャンと自動化された操作により、産業用途向けの高スループットシステムを実現します。結論として、DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100Vは、アクセスできない領域からデータを取得する能力をユーザーに提供する高度な顕微鏡です。この顕微鏡は、モーター式のX-Y-Zコントローラと複数のモードとコンポーネントの付属品を通じて、ユーザーが個々のニーズに合わせてカスタマイズすることができます。3100Vはまた、高速スキャンプロセスを容易にし、ユーザーに高コントラストの画像、正確なデータ、および産業アプリケーションに最適な高スループット機能を提供します。
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