中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9410551 を販売中

ID: 9410551
Atomic Force Microscopes (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100は、DIGITAL INSTRUMENTS社のVEECOが開発した高度スキャンプローブ顕微鏡(SPM)です。表面トポグラフィ、導電率、磁気特性などの特性を幅広いサンプルで測定できるように設計されています。VEECO Dimension 3100は、材料科学、半導体製造、工学、生物学、ナノテクノロジー、バイオテクノロジーなど、さまざまな研究分野に適した汎用性を備えたユニークな機能を備えています。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100には、ジョイスティック制御のスキャンヘッドと、サンプルイメージング用の高解像度モノクロCCDカメラが装備されています。スキャンヘッドはジョイスティックを介して制御され、ナノメートルスケールの解像度でカンチレバーを移動します。これにより、高精度な極小部品の研究が可能となります。このユニークなプラットフォームにより、研究者は個々の原子での静的および動的挙動とさらに小さなスケールの両方を調べることができます。最大1。5ギガピクセル/秒の速度でデータを取得することができます。また、10ナノ秒の時間分解能で10ピコケルビン程度の局所温度変動を制御・測定することも可能です。また、導電率や作業機能などの表面地形や電気特性の測定にも使用できます。この目的のために、サンプル表面をスキャンするために使用されるピエゾスキャナを備えた機器。イメージングは、スキャン力、原子力、およびコンタクトモード顕微鏡の組み合わせで行われます。また、最高精度の地形を達成し、測定を行うためのドリフト補償も提供します。Dimension 3100の柔軟なソフトウェアシステムにより、ユーザーは単一のプラットフォームからさまざまな実験を行うことができます。グラフィカルユーザーインターフェイスは特にユーザーフレンドリーで、一連の画像の作成、一括画像からの統計の収集など、幅広いマクロレベルの操作が含まれています。フリッカーモード、多次元データセットからの画像の解析、3Dサーフェスプロッティングなどの特殊なデータ解析技術により、測定精度が向上します。追加機能が必要なユーザーは、インストゥルメントのアップグレード版を購入できます。これらのバージョンでは、トラバース速度の向上、視野の拡大、イメージング速度の向上、ダイナミックレンジの拡張、温度安定性の向上などの追加機能が提供されます。全体として、VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、科学研究にとって貴重なツールです。さまざまな研究分野に特に適したユニークな機能を多数提供しています。さらに、ユーザーフレンドリーなインターフェイスと高度なソフトウェアシステムにより、操作が簡単かつ直感的になります。
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