中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9364489 を販売中
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ID: 9364489
Atomic Force Microscope (AFM)
Stage movement X and Y: 150 mm
With 2 micron resolution
Micron area viewing video optics: 150 - 675 Zoom
Piezo scan head range:
X and Y: 90 Micron
Z: 6 Micron
Sub nanometer resolution: 16 Bits DAC
Sample image size: Maximum 512 x 512
AFM Contact and tapping mode
Conductive AFM
STM
Liquid cell
Table and hood included
Does not include controller.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、科学研究用の高速スキャンプローブ顕微鏡(SPM)です。ナノスケールでの表面や材料のイメージングと操作の両方のために設計されています。VEECO Dimension 3100は、プローブと表面の相互作用を原子レベルまで制御および測定する独自の機能により、これまでにない分解能と精度を実現します。イメージング、分光、力測定、操作のためのナノメートルスケール制御を提供します。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、非接触式AFM(原子間力顕微鏡)構成で、対話式のX-Yステージを備えています。この構成により、顕微鏡は微細な表面トポグラフィを測定し、静的および動的な表面現象の両方を特徴付けることができます。また、SPMは空気と流体の両方の環境で動作することができます。ディメンション3100には、電気力顕微鏡(EFM)、電位顕微鏡(EPM)、導電性原子力顕微鏡(CAFM)、ケルビンプローブ力顕微鏡(KPFM)などの複雑な動作を可能にする高度なイメージング装置があります。また、地形、surficial、および3次元イメージング-イメージングモードの強力なトリオを備えています。解像度の面では、VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100はz方向で0。5nmを達成することができ、他のシステムと比較して測定および操作の能力が向上します。さらに、圧電複合フィードバックループスキャンシステムは、データ品質を大幅に改善し、ノイズを低減し、測定をより信頼性の高いものにします。VEECO Dimension 3100は並列処理ユニットを備えており、高速で大量のデータを収集することができ、ナノ構造をすばやく調べることができます。このマシンを使用すると、複数の実験を同時に実行することができ、より効率的で生産的です。結論として、DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、ナノスケールで高レベルのイメージング、特性評価、および操作機能を必要とする科学者や研究者にとって貴重なツールです。独自の機能と機能により、Dimension 3100は、表面測定と操作のための比類のないレベルの精度と制御を提供することができます。
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