中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9241953 を販売中

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、ポリマーや半導体材料を含む幅広い標本をスキャンするために設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。ディテールの高い様々な画像を提供することができます。この機器は、使いやすく直感的なユーザーエクスペリエンスを提供する人間工学に基づいた設計で完全に統合されたEnCaseプラットフォームを含む堅牢な設計を特徴としています。30mm×20mm〜500mm×400mmの範囲で試験片を収容することができます。これは、異なるイメージング角度を達成するためにサンプルを傾けるために操作することができるサンプルステージを持っています。また、高感度の二次電子イメージング検出器と、より厚いサンプルのイメージングを可能にする断面モードを備えています。このシステムには、高い信号対ノイズ比、低ドリフト、および優れた焦点深度を提供するように設計されたフィールド放射銃も含まれています。また、VEECO Dimension 3100には高性能な気体ショットキースキャナが搭載されており、サンプルの非常に詳細なイメージングが可能です。このユニットはまた、サンプルの位置決めと準備を容易にするために使用される照明付きの光学ビューイングヘッドを備えています。光学ビューイングヘッドには、高解像度50xレンズをはじめとする様々なレンズを搭載することができ、小さな特徴の解析が可能です。DIGITAL INSTRUMENTS寸法3100を使用して、さまざまな画像タイプを生成および分析できます。これらには、サンプル表面の地形画像や後方散乱画像、および重要なフィーチャー表面のイメージングおよび分析に使用される二次電子画像が含まれます。また、大型試料の高解像度画像を生成し、試料を正確に表現することができます。また、統合ソフトウェアパッケージを使用してサンプルの3Dモデルを自動生成することもできます。これらのモデルを使用して、標本を詳細に可視化および分析したり、サンプルのインタラクティブな3Dプレゼンテーションを作成したりできます。全体として、Dimension 3100は強力で汎用性の高い走査型電子顕微鏡であり、多種多様なサンプルの高解像度イメージングおよび分析が可能です。直感的で人間工学に基づいたユーザーエクスペリエンスで優れた画質と解像度を提供するように設計されています。