中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9227547 を販売中

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ID: 9227547
Atomic force microscope (AFM).
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 Scanning Probe Microscope (SPM)は、従来の光学顕微鏡で見ることができなかった対象物の画像化、マッピング、解析を可能にする研究グレードの顕微鏡です。この高度なツールは圧電式カンチレバーを使用して、2Dおよび3D測定のナノメートルスケールの位置変化を検出します。VEECO Dimension 3100顕微鏡は、タンパク質、ポリマー、半導体、ナノワイヤーなどのナノスケール構造を研究するために、学界、産業界、政府の科学者や研究者によって広く使用されています。DIGITAL INSTRUMENTS次元3100顕微鏡には、小さなカンチレバーや高解像度のsCMOSカメラなど、いくつかのコンポーネントが含まれています。カンチレバーは圧電材料で作られており、電界に応じて拡大または収縮します。カンチレバーは顕微鏡のスキャンヘッドに取り付けられ、事前に配置されたマイクロチップ上にあるサンプル上でカンチレバーを操作します。カンチレバーの先端には、サンプルの小さなナノメートルの変化を検出する感度があります。一方、sCMOSカメラは顕微鏡の光学系と組み合わされて、これらの変化を捉えてコンピュータに転送し、さらなる分析を行います。SPMサブシステムには、独自のフィードバックアルゴリズムと、片持ちサンプル検出器を調節するセンサモジュールが搭載されています。さらに、0。1nmまでの領域をスキャンし、100nmまでの解像度でフルカラーイメージを作成することができます。ソフトウェアの画像管理モジュールを使用すると、キャプチャされたすべての画像を簡単に保存、整理、アクセスできます。Dimension 3100顕微鏡は、Stage Scan AnalysisとContact Frequency Spectrumの組み合わせモードを含む、オートメーションモードとデータ解析ツールの完全なスイートを提供します。このSPMは、粗くて不均一で3次元の表面でも、高精度な情報を抽出するように設計されています。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS次元3100は調節可能、信頼でき、多くの異なったサンプルおよび適用を収容するために目盛りを付けることができます。それは他のSPMの設計と達成できるそれらより低い温度で材料を研究することの多目的性に加えて、より冷たい段階を含むように変更することができます。全体として、VEECO Dimension 3100スキャンプローブ顕微鏡は非常に強力な研究ツールであり、科学者はサンプル材料に関する正確で詳細なナノスケール情報を得ることができます。高感度カンチレバー、高解像度カメラ、一連の自動化およびデータ解析ツールにより、ナノスケール現象を研究する人々にとって貴重なリソースを提供します。
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