中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9199313 を販売中

VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100
ID: 9199313
Atomic Force Microscope (AFM) NS5 Controller Operating system: Windows 7 Vibration enclosure included.
VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、物理的なプローブ先端、コントローラ、コンピュータを組み合わせてナノスケールレベルでのイメージングを可能にするスキャンプローブ顕微鏡(SPM)です。3軸の粗いスキャンステージと2軸の垂直スキャンステージで構成されており、どちらもx、 y、 z方向のサンプルの正確な移動を可能にします。コントローラには、ピエゾスキャナーが装備されており、先端サンプル距離を制御し、ピエゾ駆動のx、 y、 z軸でサンプル位置の位置とフィードバックを制御します。コントローラとコンピュータは両方とも同じワークステーションに統合されています。VEECO Dimension 3100は、接触モードと非接触(NC)モードの2つの個別のイメージングモードを提供します。接触モードでは、顕微鏡の先端がサンプルの表面に接触し、スキャンされます。サンプル分子とプローブの先端の間の力を測定することで、画像が得られます。このモードは、柔らかく壊れやすい材料のイメージングに最適です。または、NCモードを使用すると、表面からサブナノメートルの距離に先端を配置するサーフェスのイメージングと操作が可能になります。その後、サンプルとプローブの先端の間のトンネリング電流の違いを測定することで、画像を得ることができます。半導体などの硬質材料のイメージングや操作に適しています。DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100は、NSOM検出器から受信した信号の位相または振幅を記録するScanning-Fourier-Viewing (SFV)技術を使用して、表面プロセスをリアルタイムで監視することもできます。データは、ユーザーの介入を必要とせずに自動化された方法で収集され、動的なサーフェスプロセスを分析する機能を提供します。また、SFVモードは、表面電子特性や分子スケール現象の探索に役立つ高分解能分光イメージングも可能です。ディメンション3100は、ナノスケールのイメージングと操作のための費用対効果の高いツールです。統合されたワークステーションは、外部データ処理装置の必要性を排除し、ユーザーフレンドリーな制御ソフトウェアにより、使いやすくなります。ソフトウェアはまた、簡単なデータ処理と視覚化を可能にし、結果の分析と解釈性を高めるためのグラフィカルツールの選択を提供します。その信頼性の高いイメージングおよび操作機能と効率的な操作により、ライフサイエンス、材料科学、電子工学のナノテクノロジー研究に最適です。
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