中古 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 #9160895 を販売中

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 scanning electron microscope （SEM）は、材料分析やナノファブリケーションなどのさまざまな研究用途向けに設計された汎用性の高い高性能研究顕微鏡です。VEECO Dimension 3100 SEMには、高解像度のタングステンフィラメントソース、大型サンプルチャンバー、フィールドエミッションソースが装備されており、画像処理、自動断層撮影、電子ビームリソグラフィ、微細分析、材料表面解析などの幅広い機能を提供します。DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION 3100は、サブナノメートルからマイクロメートルまでの解像度で構造化されたサンプルと非構造化サンプルの3D画像を撮影できる統合イメージング装置を備えています。これにより、材料表面の極めて精密な測定とイメージングが可能になり、構造とナノ加工の研究が可能になります。また、統合された画像キャプチャおよび解析技術により、サブミクロメータ材料の3次元イメージングのための自動断層撮影が可能になります。Dimension 3100はフィールド放出源も備えているため、非常に精密なナノスケールのイメージングと解析が可能です。この機能により、直径1nmの小さな物体を検出して測定できる強力な顕微鏡システムが可能になります。さらに、フィールド放出源のため、顕微鏡は、従来のタングステン源よりも20倍であるフィールドの深さを達成することができます。この被写界深度の向上により、細かいディテールの分析が強化されます。VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension 3100 SEMの大型サンプルチャンバーを使用すると、さまざまなサンプルタイプで高倍率を探索することができます。このチャンバーは、非常に大きい（10cm以上）から非常に小さい（1cm未満）までのサイズのサンプルを扱うことができます。また、汎用性が高く、大小のサンプルを分析するために様々なホルダーが用意されています。さらに、このSEMには自動ステージ制御機能が搭載されており、サンプルの正確なx-y-z位置決めを可能にし、この顕微鏡システムの機能をさらに強化します。全体として、VEECO Dimension 3100走査型電子顕微鏡は、1nmの小さい細部、大きなサンプルチャンバー、統合されたイメージングマシン、およびフィールド放出源を検出できるため、多くの研究用途に理想的な非常に正確で汎用性の高い顕微鏡ユニットです。