中古 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9390606 を販売中

VEECO/DEKTAK Dimension X3Dは、計測および顕微鏡の幅広い用途に使用するために設計された高性能の垂直スキャン顕微鏡です。X3Dは、高解像度の2048 x 2048イメージセンサーを使用してサンプルをトップダウン表示する統合ビジョン装置を採用しています。このX3Dは、Z軸に沿って1 nmの解像度が可能で、X軸とY軸の測定には0。1 umまでの、最も正確で繰り返し可能な垂直スキャン顕微鏡の1つです。このX3Dは、測定データの再現性に優れています。このX3Dには、高精度で再現性のある測定を保証するさまざまな機能が含まれています。X3Dは、サンプルエリア全体に均一な強度を提供するラスターパターン照明システムを使用しています。これにより、均一な照明が得られ、スキャン時や高さの測定時の精度が向上します。X3Dには、最大32x倍率の強力な画像処理ユニットも含まれており、詳細なサンプルイメージングを可能にします。この機械は、明るいフィールド、暗いフィールド、蛍光イメージング、およびオンザフライの自動測定計算が可能です。X3Dには、スキャン、マップ、傾き、高さなど、さまざまな操作モードが含まれています。これらにより、ユーザーは地形図を生成し、測定を校正および検証し、高度な計測アプリケーションを実行できます。スキャンモードでは2Dスキャンを生成し、マップモードでは最大0。15ミクロンの位置精度で高解像度の3D地形マップを自動生成します。傾斜モードは、最大70°の角度を持つサンプルに対して射影3D表面地形測定を行い、ユーザーは表面粗さおよび非平面形状プロファイルを分析することができます。高さモードは、最大0。3ミクロンの位置精度で絶対高さを測定します。X3Dの最も人気のある機能の1つは、校正からデータ取得までの測定プロセス全体を自動化するMetrology Packageソフトウェアです。この機能により、重要なオペレータ誤差が低減され、全体的な精度と測定スループットが向上します。X3Dはまた、最大150mmの範囲を提供するオプションの電動ステージXYドライブで、大きなステージエリアを備えています。この機能は、材料研究からデバイス工学まで、幅広いアプリケーションに大きなワークスペースを提供します。このX3Dは、信頼性の高い再現可能な測定ツールを探している研究者やエンジニアにとって理想的な顕微鏡です。その強力なイメージング機能と測定機能により、さまざまなアプリケーションに適しています。日常的な非接触スキャンから超精密な高解像度測定まで、X3Dは仕事を完了させるのに最適なツールです。