中古 VEECO / DEKTAK Dimension X3D #9285850 を販売中

VEECO / DEKTAK Dimension X3D
製造業者
VEECO / DEKTAK
モデル
Dimension X3D
ID: 9285850
ウェーハサイズ: 12"
Atomic Force Microscope (AFM), 12".
VEECO/DEKTAK3 VEECO/DEKTAK Dimension X3Dは、ナノスケール計測および各種材料の特性評価用に設計された最先端の3D表面測定/プロファイル測定ツールです。これは、正確で費用対効果の高いデータ取得機能を提供する最新の光学、機械、およびオートメーション技術に基づいて構築されています。X3Dは、コンパクトなXYピエゾステージ、高解像度CCDカメラ、レーザーベースの深度センサー、高度なカラーオプティクスを備えたユニークな光学設計を特徴としています。統合されたソフトウェアプラットフォームは、直感的なユーザーインターフェイスとリアルタイムの3Dサーフェスデータ視覚化、統計分析、自動レポート生成などの強力なデータ分析ツールを提供します。X3Dは、光学プロフィロメトリー技術を使用して、3次元全体の物体の表面形状と粗さを正確に測定します。このツールは、サンプルの表面に投影されたレーザーラインと補完カメラを使用して、サンプルの輪郭と高さのバリエーションをナノメートルスケールまで正確にキャプチャします。X3Dで使用されるレーザー源は、高解像度で高速な取得機能を提供するために調整可能であり、システムは複数のレーザーを使用して安定性と精度を向上させます。このX3Dは、微小およびナノスケール構造を測定し、角度、曲線、および薄い特徴を正確に捕捉することができます。このX3Dは、電動サブIMGプラットフォームを備えた堅牢で正確なアライメントと制御を提供し、速度と再現性を備えた正確な表面測定を可能にします。高性能オプティクスにより、データ収集機能が向上し、解像度が向上し、高速イメージングカメラシステムは、リアルタイムのフィードバックと迅速な画像キャプチャを提供します。機器によって生成された3Dデータは、3D CADイメージングや表面解析ソフトウェアなど、さまざまなデータ解析ツールと互換性があります。VEECO Dimension X3Dは、半導体やバイオ材料から新しい時代のポリマー、セラミックス、複合材料まで、幅広い材料の特性評価に最適なツールです。精度、解像度、速度、ダイナミックレンジの優れた組み合わせを提供し、産業および研究アプリケーションにとって非常に貴重な測定および特性評価ツールです。このX3Dは、比類のない精度と精度でナノスケール表面情報を得るための強力で信頼性の高い計測ソリューションであることが証明されています。
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