中古 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9302575 を販売中

VEECO/DEKTAK Dimension 3100は、サンプル表面の高分解能地形、機械的および電気的特性評価を提供するために開発された多成分スキャンプローブ顕微鏡（SPM）装置です。アクティブなフィードバックシステムを備えた非常に安定したスキャンプラットフォームを備えており、材料科学、ナノ科学、半導体デバイス、MEMS、ナノ計測およびトライボロジーなど、幅広い研究および産業アプリケーションで広く使用されています。VEECO Dimension 3100には、サンプルを測定および分析するために設計されたさまざまなハードウェアコンポーネントが含まれています。主要なコンポーネントは、スキャンヘッド、ステージ、ディスプレイ、およびコントローラです。スキャンヘッドは、精密ポジショナーに搭載された高解像度、高速XYZスキャナです。解像度が0。3nmまでのナノメートルスケール単位でサンプル表面を画像化および移動できます。ステージは、スキャンヘッドが測定を行うようにXYZスキャナとの相対的なサンプルを移動する電動プラットフォームです。ディスプレイは、最大50 nm/ピクセルの解像度でサンプル表面をリアルタイムおよび定性画像を含むさまざまなモードで表示する強力なグラフィカルユーザーインターフェイスです。また、スキャン速度、表示ゲイン、スキャンウィンドウのサイズと速度、およびさまざまな特性（表面積、粗さ、連続性など）などのスキャンパラメータを制御することができます。DEKTAK次元3100はまたサンプルの非破壊的な機械的および電気特性化を可能にする力および電気センサーのような付加的な機械および電気部品を、特色にします。フォースセンサはサンプルの硬度、剛性、摩擦特性を測定でき、電気センサは表面抵抗、データ転送などの特性を測定します。最後に、コントローラは、Dimension 3100のハードウェアコンポーネントとのPCベースのユニットインタフェースです。これは、いくつかの事前にプログラムされた制御アルゴリズムを含み、複雑なマルチパラメータスキャンが可能です。コントローラはまた、機械からの測定結果の分析とリアルタイムのデータ表示を可能にします。全体として、VEECO/DEKTAK Dimension 3100は、幅広いイメージングおよび材料特性評価タスクにおいて、精度、精度、汎用性の優れた組み合わせを提供します。ツールのハードウェアとソフトウェアコンポーネントが連携して、使いやすさと信頼性の高い最高品質の結果を提供します。