中古 VEECO / DEKTAK Dimension 3100 #9082264 を販売中
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販売された
ID: 9082264
Atomic Force Microscope (AFM)
Includes:
Controller: DI Dimension 3100 Nanoscope Vacuum, DI scanning probe microscope
Nanoscope extender: #EX-1
Acoustic sound hood
Anti-vibration table
Pc with software
Dell monitor (1)
Keyboards (2)
Mouse (2)
Trackball (1)
Extender device
Cables: Power cables, cat5 cables, parallel port cables, and air hoses
Manual.
VEECO/DEKTAK Dimension 3100は非接触3D表面測定装置です。それは顕微構造の分析のために設計されている高度の顕微鏡です。このシステムは、高精度で再現性のある測定を提供するために、共焦点イメージング分光法を使用しています。この顕微鏡は、自動化されたXYZ/Zモーター制御ステージを備えており、サンプル処理が容易です。このユニットには、正確なデータ分析と表示のための高度なデジタル画像取得および分析ソフトウェアパッケージも含まれています。この顕微鏡の光学機器は、交換可能なフレームと目的を備えた高解像度のライカ/オリンパスTrinocular顕微鏡で構成されています。目的は4mmから0。4mmまで及ぶ作動距離を提供する4xから100xまで変えることができます。このツールには、明るいフィールド、暗いフィールド、斜めと反射光でイメージングするためのCCDカメラとLEDストロボが装備されています。アセットは、カスタム蛍光フィルターセットで使用することもできます。このモデルには、サンプルの正確な測定とアライメントのための自動コントローラが装備されています。このコントローラは、高感度の7軸リニアドライブ装置を備えており、対物レンズを通してサンプルを正確に移動させます。コントローラーに0.3µmの回転式動きおよび調節可能な速度範囲があります。また、サンプルのアライメントと調整を設定するのに役立つ電子タイトルツールも備えています。VEECO Dimension 3100は、幅広い測定機能を提供します。部品や表面の高さ、深さ、平坦度を測定するための自動エッジ検出機能を備えています。このシステムは、表面粗さ測定機能と表面構造プロファイルも提供します。3D取得技術により、複雑な形状、凹凸、突起を正確に測定できます。全体的に、DEKTAK Dimension 3100は、正確で反復可能な3D表面および微細構造の測定に理想的な選択肢です。高精度な測定と正確な画像キャプチャのための高感度光学機器を備えています。自動化されたXYZ/Zモーター制御ステージにより、サンプルの位置決めが容易になります。さらに、その高度なソフトウェアパッケージは、効率的なデータ取得と分析を可能にします。全体として、このツールはユーザーに迅速で正確で信頼性の高い測定とプロファイルの視覚化を提供します。
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