中古 VEECO / BRUKER DiInnova #9398521 を販売中

VEECO/BRUKER DiInnova顕微鏡は、高度で高性能な電界放出走査型電子顕微鏡（FE-SEM）です。この最先端の機器は、最大解像度のイメージング、簡単な自動化された操作、低いサンプル損傷のために設計されています。VEECO DiInnovaは、挑戦的なサンプルでも一貫した高品質の結果を得ることができる革新的なチャネル電子乗数検出装置を使用しています。また、独自のマグネトロンガンを実装しており、リソースの迅速な入手とユーザーの所有コストの削減を可能にします。BRUKER DiInnovaは、最大1 nmの解像度をユーザーに提供します。これは、サンプルの詳細を解決するのに十分な量です。さらに、業界をリードする低動作温度により、サンプルが動作中に損傷しないようにします。これにより、DiInnovaは薄膜特性評価、故障解析、微細構造イメージングなどのアプリケーションに最適なツールとなります。この顕微鏡には、最高の画質を確保するために、オートフォーカスと広い作業距離が装備されています。VEECO/BRUKER DiInnovaに採用されている電子光学系は、従来の光学系よりも高い性能と耐久性を確保し、画像忠実度を向上させます。さらに、サンプルナビゲーションの自動化、高度なイメージングモード、サンプル分析を合理化する専用ソフトウェアなど、幅広い機能を提供します。自動化されたナビゲーションシステムにより、ユーザーは視野を簡単にキャリブレーションし、大容量を迅速かつ正確に横断することができます。統合されたイメージングユニットは、二次電子イメージング（SEI）、背面散乱電子イメージング（BSE）、減速電子イメージング（DEI）、エネルギー分散X線画像（EDXI）などの複数のイメージングモードにも対応しています。これらのイメージングモードは、1つのサンプルから前例のないディテールを得るために互いに組み合わせて使用することができます。最後に、専用のソフトウェアパッケージは、ユーザーフレンドリーで直感的な環境でサンプルナビゲーションと画像操作を最適化するように設計されており、VEECO DiInnovaはさまざまなイメージングおよび分析ニーズに適しています。BRUKER DiInnovaは、高度で高性能な電界放出走査型電子顕微鏡で、サンプルの損傷を最小限に抑えながら、サンプル分析を迅速かつ簡単に行えるように設計されています。広範な機能、専用ソフトウェア、統合イメージングマシンを備えたDiInnovaは、さまざまなアプリケーションにとって強力で貴重なツールです。