中古 VEECO Autoprobe M5 #9100029 を販売中
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ID: 9100029
ヴィンテージ: 1998
Atomic Force Microscope (AFM)
Scan range up to 100 x 100 square microns
Closed-loop scanner for metrology with 5% accuracy
8" Translation stage accomodating up to 400 x 400 x 25 mm³ samples
On-axis integrated optics, 400-1700x
Liquid and air operation
Up to eight data acquisition channels
Operating system: Windows 98
1998 vintage.
VEECO Autoprobe M5顕微鏡は研究のさまざまな分野で使用される強力で、精密な器械です。半導体故障解析、メタライゼーション顕微鏡、透過電子顕微鏡(TEM)サンプル調製などの用途があります。このデバイスの高度な解析技術により、データ収集の精度を最大限に高めることができます。Autoprobe M5には2つの高度な機能が搭載されており、最初のものは高度なAFM(原子力顕微鏡)モジュールです。これにより、故障解析、メタライゼーション検査、および重粒子イオンおよび電子ビーム試料調製のための高分解能イメージングが可能になります。AFMシステムは、ラインスキャン、輪郭マッピング、シングルイオンイメージングなど、さまざまなモードでイメージングを行うことができます。AFMのプローブは、0。1nm (100ピコメータ)までの解像度と0。1nmのエレクトロメータ感度で画像を生成することができます。さらに、断面画像などのサンプルの3次元画像を生成することができます。VEECO Autoprobe M5の2番目の特徴は、走査型電子顕微鏡(SEM)機能です。これにより、イメージングの精度と解像度がさらに向上します。SEMモジュールは、0。1nmの分解能と6。5nmのスポットサイズのサンプルを分析することができます。さらに、このシステムは、さまざまな倍率で3次元画像をキャプチャすることができます。Autoprobe M5には、分析用のデータを保存する機能をユーザーに提供するさまざまなソフトウェアパッケージも含まれています。これには、ユニバーサルイメージビューア/レコーダー、3Dレンダリングツール、およびデータ処理用のImageJインターフェイスが含まれます。全体として、VEECO Autoprobe M5は、さまざまなアプリケーションに対応する画期的な顕微鏡です。AFMモジュールとSEMモジュールのユニークな組み合わせは、これまでにないレベルのイメージングとデータ収集を提供します。この装置は信頼性と精度が高く、半自動サンプルイメージングや解析にも使用できます。Autoprobe M5は、TEMサンプルの準備と故障解析の答えです。
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