中古 SONOSCAN Gen6 #293810496 を販売中

SONOSCAN Gen6は、マイクロエレクトロニクスデバイスおよび材料の非破壊検査および分析用に設計された高度な超音波スキャン音響顕微鏡（C-SAM）装置です。この最先端の顕微鏡は、電子部品、集積回路、プリント基板（PCB）、およびその他の先端材料の内部構造および欠陥の高解像度イメージングと正確な特性評価を提供する高度な機能と機能を備えています。Gen6システムの中心には、超音波を生成し、スキャンされるサンプル内の内部インターフェースと欠陥からの反射を検出する高周波トランスデューサがあります。このユニットは、高解像度のイメージング機能を実現するために集中超音波ビームを使用しており、サブミクロン精度で内部機能を可視化することができます。超音波は、金属、プラスチック、セラミックス、複合材料などの様々な材料を貫通することができ、多層構造や複雑なデバイスの包括的な検査を可能にします。SONOSCAN Gen6顕微鏡には、高度な信号処理アルゴリズムと画像再現技術が搭載されており、取得した画像の明瞭さとコントラストを高めています。この装置は、振幅や位相コントラストイメージングを含む複数のイメージングモードを提供しており、異なる材料を区別し、音響特性の微妙な変化を検出するために使用することができます。また、2Dおよび3Dイメージング機能をサポートしているため、内部構造を3次元で可視化し、欠陥を詳細に分析することができます。Gen6顕微鏡の主な特徴の1つは、自動スキャンおよび分析機能であり、大規模なサンプル領域の効率的かつ迅速な検査を可能にします。このツールには、複数の軸で移動してサンプル表面をスキャンし、異なる深さで複数の画像スライスを取得できる精密電動ステージが装備されています。ソフトウェアインターフェイスを使用すると、ユーザーはスキャンパラメータを定義し、取得したデータを分析し、検査されたサンプルに関する詳細なレポートを生成できます。SONOSCAN Gen6顕微鏡は、イメージング機能に加えて、欠陥や材料特性を定量的に評価するための高度な測定および分析ツールを提供します。アセットは、欠陥のサイズ、形状、位置を測定し、速度、減衰、インピーダンスなどの材料の音響特性を分析することができます。これらの機能は、電子部品のデラミネーション、ボイド、クラック、はんだ接合部などの欠陥を特定し、特徴付けるのに非常に役立ちます。Gen6顕微鏡は、マイクロエレクトロニクス業界における故障解析、品質管理、研究開発など、幅広い用途に使用できるように設計されています。半導体パッケージ、フリップチップ、ワイヤーボンド、MEMSデバイス、セラミックス、ポリマー、複合構造など、さまざまな電子部品の検査に使用できます。このモデルは汎用性が高く、ユーザーフレンドリーであり、さまざまなアプリケーションの特定の検査および分析要件を満たすためのカスタマイズ可能なオプションを提供します。SONOSCAN Gen6は、マイクロエレクトロニクス機器や材料の非破壊検査のための高度なイメージング、解析、測定機能を備えた最先端の音響顕微鏡装置です。高解像度イメージング、自動スキャン、定量分析機能により、欠陥の特定、材料特性の分析、さまざまな業界の電子部品および材料の品質と信頼性の確保に役立つ貴重なツールです。