中古 SONOSCAN C-SAM #9138543 を販売中

SONOSCAN C-SAM （Confocal Scanning Acoustic Microscopy）は、1980年代にSONOSCAN、 Inc。で開発された高度なイメージングおよび測定技術です。このツールは、光学顕微鏡では見えないマイクロおよびナノ構造などの非常に小さな音響現象を可視化して測定するために使用されます。通常の光学顕微鏡とは対照的に、SONOSCAN CSAMは光源を必要としません。最小限の試料調製を必要とする非破壊解析法です。C-SAM装置には、顕微鏡トランスデューサと検出装置の2つのコンポーネントがあります。顕微鏡トランスデューサは、サンプルの共振周波数にチューニングされた音波を生成します。このトランスデューサは、音響レンズとしても機能し、音波をよく定義されたパターンで送信、集中、収集することができます。レンズは、試料表面の音波エネルギーを調べるために設計されており、材料を2軸（xとy）で探索することができます。音波がサンプル表面を貫通すると波形が変化し、検出システムによって検出されます。検出ユニットは、音響波形シグネチャを測定することにより、材料の音響特性を決定します。音響波形の周波数、振幅、位相、パワーを測定することにより、検出機は、それが画像を生成するために使用することができる材料の音響特性を決定することができます。この画像は、結果を比較し、画像の精度を検証するために、デジタルまたは光学顕微鏡で見ることができます。CSAMは、厚さ、気孔率、弾性、熱音響ミスマッチ、音響波伝播、音響インピーダンス、表面の質感、音速など、幅広い材料特性を測定するために使用できます。SONOSCAN C-SAMツールによって生成される音波は、材料の亀裂、空隙などの欠陥を検出することもできます。SONOSCAN CSAMは、ポリマーから金属まで幅広い材料の検査、およびマイクロエレクトロニクス部品の検査および測定に不可欠なツールです。このアセットは、材料の音響特性に関する正確な情報を提供することができ、光学顕微鏡では見えない欠陥を検出することができ、欠陥分析、品質管理、医療診断、および科学研究アプリケーションでの使用に最適です。