中古 SONOSCAN C-SAM D-6000 #9223694 を販売中

SONOSCAN C-SAM D-6000は、卓越した音響イメージングおよび解析アプリケーション向けに設計された先進的な半導体音響顕微鏡です。この装置は、最高の解像度で最新の音響イメージング技術を提供し、最高のシステムパフォーマンスと最高の音響イメージングデータを提供するためのいくつかの機能を備えています。SONOSCAN C-SAM D6000は、レーザーパルスエコー技術を使用して、半導体ウェーハ表面の薄膜材料の音響画像を生成します。レーザー励起源によって生成される超音波パルスは、材料の前面と背面に焦点を合わせ、得られた音響信号を処理します。このスキャンにより、材料の断面図が作成されます。C-SAM D-6000は、ナノメートルスケールの材料の検査と分析に理想的なツールです。また、サブサーフェス欠陥、マイクロ電気部品、埋め込み機能など、材料内部の微細な変更を監視することもできます。その高度なハードウェアとソフトウェア機能は、大量の生産ラインサンプルの評価にも理想的です。その視野は標本のサイズに従って調節することができ非常に正確なイメージ投射を可能にします。C-SAM D6000は、ICコンポーネント、MEMS構造、3D構造、および高解像度リソグラフィ構造の非破壊試験の分析に適しています。さらに、その特殊な断面イメージング技術を使用して、既存の設計図面に対して製造された材料を検査し、設計からの逸脱を特定することができます。SONOSCAN C-SAM D-6000は、オートフォーカス機能などの包括的なソフトウェアツールを提供しており、手動調整を必要とせずにリアルタイムで適切なフォーカスを保証します。このユニットは、パルスとCWの両方の音響イメージングに最適化されており、さまざまなアプリケーションに対応した柔軟性を提供します。SONOSCAN C-SAM D6000は、イメージング機能に加えて、さまざまな解析機能を提供します。高度な信号/ノイズ除去機能とプリスキャナ機能により、信号汚染が発生した場合でも、レイヤーの厚さやプロファイル形状などの特性を正確に測定できます。このマシンはまた、非常に低い振幅または高い背景SNRで特徴を識別し、特性を評価するための最適なピークピッキングアルゴリズムを備えています。C-SAM D-6000は、半導体業界の幅広い用途の要件を満たすように設計された汎用性の高いツールです。その精度、信頼性、高度な機能により、あらゆる種類の材料を分析するための貴重なツールとなります。