中古 LEICA / VISTEC INM 20 #293759374 を販売中

LEICA/VISTEC INM 20は、解像度と精度に優れた幅広いサンプルの高性能イメージングと解析を目的とした最先端の走査型電子顕微鏡（SEM）です。この先進的な機器は、LEICAの有名な光学品質とVISTECの洗練された技術を組み合わせており、科学研究や産業応用のための強力なツールとなっています。LEICA INM 20のコアには高分解能の電界放出電子源があり、優れた明るさと安定性を持つ電子ビームを生成します。この電子ビームは、精密電磁レンズとスキャンコイルを使用してサンプル表面に集中してスキャンし、ナノメートルスケールの解像度で詳細な画像を作成することができます。この顕微鏡には、二次電子、後方散乱電子、エネルギー分散型X線検出器などの複数の検出器が搭載されており、サンプル形態、組成、構造の包括的なイメージングと解析が可能です。VISTEC INM 20は、大きく不規則な形状のサンプルに十分なスペースを持つ、堅牢で汎用性の高いチャンバー設計を特徴としています。このチャンバーには、サンプルの積み下ろしを容易にするための複数のポートが装備されています。また、クライオ搬送システム、ガス注入システム、サンプルホルダーなどの専用アクセサリを組み込むこともできます。この顕微鏡には、高度な真空システムも含まれており、安定した汚染のないイメージング条件を保証します。INM 20の重要なポイントの1つは、直感的で使いやすいソフトウェアインターフェースで、顕微鏡のパラメータ、画像取得、データ分析を効率的に制御できます。このソフトウェアは、イメージステッチ、3D再構築、要素マッピング、ラインプロファイル分析など、包括的なイメージングおよび処理ツールを提供します。ユーザーは、加速電圧、ビーム電流、スキャン速度などのイメージングパラメータを簡単にカスタマイズして、さまざまなサンプルタイプや分析目標のイメージング性能を最適化できます。LEICA/VISTEC INM 20は、イメージング機能に加えて、元素および化学分析のための高度な分析機能を備えています。エネルギー分散型X線検出器は、サンプルの定性的かつ定量的な元素分析を可能にし、サンプルの組成と構造に関する貴重な洞察を提供します。また、この顕微鏡は電子ビームのリソグラフィ用途にも対応しており、サンプル表面におけるナノ構造の正確なパターン化と製造を可能にしています。全体として、LEICA INM 20は、顕微鏡分野における高解像度イメージングと解析のための新しい標準を設定します。優れた性能、汎用性の高いデザイン、ユーザーフレンドリーなインターフェースにより、材料科学、ナノテクノロジー、生物学、地質学など、幅広い科学分野に理想的なツールとなっています。VISTEC INM 20は、学術研究所、産業用R&D施設、または品質管理研究所のいずれにおいても、科学的探査の境界を押し上げるための比類のないイメージング機能と分析精度を提供します。