中古 HITACHI FS-200 Type II #293679641 を販売中

HITACHI FS-200 Type IIは、先端材料の研究・解析用に設計された高性能透過電子顕微鏡（TEM）です。最先端の技術と革新的な機能を備えたこの顕微鏡は、幅広い科学的用途において卓越した解像度とイメージング機能を提供します。HITACHI FS200 TYPE IIには、高いコヒーレント電子ビームを提供する電界放出電子銃を搭載し、優れた画像品質を実現しています。原子スケールでの高分解能イメージングが可能な電子銃で、複雑な構造や界面を持つ材料の研究に最適です。さらに、電子ビームの精密な制御を可能にする高度な電子光学機器を備えており、様々なサンプルに最適なイメージング条件を保証します。FS-200 Type IIの主な特徴の1つは、球面収差と色収差を最小限に抑え、画像のコントラストと解像度を向上させる収差補正イメージングシステムです。この補正技術により、研究者はサンプルのより鮮明でより詳細な画像を得ることができ、複雑な表面の特徴や原子構造を顕著に明らかにすることができます。収差補正ユニットは、顕微鏡の分析機能を強化し、材料の正確な化学分析と元素マッピングを可能にします。性能面では、FS200 TYPE IIは最大100万倍の優れた画像解像度を提供します。この高倍率により、研究者は原子レベルで材料を探索することができ、サンプル内の結晶構造、欠陥、組成の変化を詳細に調べることができます。また、高解像度TEM、 スキャンTEM、 STEM-EDS（エネルギー分散型X線分光法）など、幅広いイメージングモードを備えています。また、HITACHI FS-200 Type IIには、様々なサンプルタイプやサイズに対応した汎用性の高いサンプルハンドリングマシンを搭載しています。この顕微鏡は、精密な位置決め制御を備えた電動サンプルステージを備えており、ユーザーはサンプル内のさまざまな領域を簡単にナビゲートして検査することができます。また、サンプルステージは傾きと回転機能を備えており、空間分解能の高い断層撮影や3D再構築が可能です。HITACHI FS200 TYPE IIのもう一つの特長は、電子エネルギー損失分光法（EELS）や電子回折などの高度な解析能力です。これらの分析手法は、材料の電子的および構造的特性に関する貴重な洞察を提供し、研究者は優れた感度と精度で結合構成、電子状態、結晶方位を研究することができます。結論として、FS-200 Type IIは最先端の透過電子顕微鏡であり、先端材料研究において比類のない画像解像度、分析性能、サンプル処理能力を提供します。最先端の技術と革新的な設計により、材料科学、ナノテクノロジー、半導体技術などの分野で活躍する科学者や研究者にとって貴重なツールです。