中古 CAMECA LEAP 3000X Si #9240926 を販売中
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販売された
ID: 9240926
ヴィンテージ: 2006
Atom probe microscope
Option:
Laser
Plasma cleaner on buffer chamber
Pucks:
Local electrode puck
Local electrode
Local electrode puck alpha identifier
Specimen puck numeric identifier
Specimen puck
Specimen holder
Specimen and puck assembly:
Specimen length: 2-8 mm
Specimen puck cone
Specimen set screw
Planar specimen
Wire specimen
Specimen mounting post:
Wire specimens mount to an 8 mm post
Planar specimens mount to a 14 mm post
Carousel and pucks:
Local electrode puck
Loadlock peg clearance notch
Specimen puck
Carousel index
Puck position alpha identifier
Carousel numeric identifier
Local electrode puck mounted in the carousel
Loadlock peg mount
LEAP Microscope:
UHV Vacuum gauge
Loadlock chamber and access door
Buffer turbo pump
Loadlock turbo pump
Horizontal transfer rod
Horizontal transfer rod chamber slide
Horizontal transfer rod angle control
Vertical transfer rod
FIM System
Bakeout blower heater
Vertical transfer rod rotation control
Buffer chamber
Vertical transfer rod vertical control
Ion pump
Amplifier Time to Digital Converter (ATDC)
Instrument flange and analysis chamber
Video camera: Top
Specimen stage alignment microscope
Instrument flange:
FIM Camera
Detector and phosphor screen selector
Flight-path length adjustment
Gate valves:
Loadlock gate valve
Turbo pump gate valve
Ion pump gate valve
Buffer gate valve
Instrument rack:
Ion pump controller
NEG Controller
Micro-positioning stage controller
High-voltage power supply
Interlock assembly
Pulser assembly
Bakeout controller
UPS
Cryo temperature controller
Vacuum gauge assembly
Emergency Machine Off (EMO) switch
Pump cart:
Pump cart
Roughing pumps
Refrigerant compressor
Laser components:
Instrument flange enclosure
Laser beam conditioning assembly
Laser system rack
Laser and voltage systems
Cold head
Floor-mount cold head support
Laser power-supply control panel:
Laser system rack
Main power switch
Laser power supply control panel
High voltage source 1 status LED
Laser-beam power switch
D1 and D2 pump diode status LED
Emergency stop switch
2006 vintage.
CAMECA LEAP 3000X Siは最先端の走査型電子顕微鏡です。材料分析、欠陥特性評価、表面トポグラフィ、故障解析、生体イメージング、ナノスケールイメージングなど、さまざまな用途に使用される高分解能機器です。LEAP 3000X Siには、安定した再現可能なイメージング用の単色熱場放射銃が含まれています。高性能イメージングシステムを搭載しており、スキャン速度が非常に速く、詳細な画像のピクセルカウントが可能です。CAMECA LEAP 3000X Siには、サンプルの準備と画像の視野を拡大するための自動ステッチシステムがあります。LEAP 3000X Siのレンズ設計は、最大解像度と柔軟性に最適化されています。3ビームイメージングシステムを備えており、粒界と小さな表面特性の両方をイメージングできます。ビーム形成段階は、画像の放射線を最小限に抑えるのに役立ち、画像をはるかに意味のないものにすることができます。CAMECA LEAP 3000X Siは、従来のSEMの3倍の解像度である1nmよりも優れた画像解像度を実現できます。これらの機能はすべて、ナノスケールまでのサンプルの非常に詳細な分析を可能にします。LEAP 3000X Siはまた、真の材料分析のための様々な流出および非流出性のサンプル調製システムを備えています。これには、サンプルコーティングシステムと試料冷却システムが含まれ、実験中にサンプル品質を維持するのに役立ちます。CAMECA LEAP 3000X Siにはユーザーフレンドリーな直感的なインターフェースがあり、顕微鏡の操作がはるかに簡単になります。また、さまざまな機能を説明し、顕微鏡でユーザーをより快適にするのに役立つ直感的なビデオチュートリアルが含まれています。全体として、LEAP 3000X Siは、さまざまな研究用途に優れたイメージングを提供することができる最先端の顕微鏡です。高解像度のイメージング、自動化されたシステム、洗練されたサンプル調製機能を組み合わせることで、CAMECA LEAP 3000X Siは、高度なイメージングソリューションをお探しの研究者に最適な機器です。
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