中古 BRUKER / VEECO X-D3 AFM #9281333 を販売中

BRUKER/VEECO X-D3 AFMはナノスケールのイメージングおよび表面分析に使用される原子力顕微鏡（AFM）の一種です。様々な表面の磁気、電気、機械特性をサブミクロン解析するために、x、 y、 zの寸法で1。5 nmの非常に高い分解能を持っています。このX-D3は使いやすさ、正確さ、信頼性で知られており、プロとアマチュアの両方の研究者にとって理想的な選択肢となっています。AFMは、カンチレバーに取り付けられた先端でナノメートルスケールのサンプル表面をスキャンすることによって機能します。カンチレバーの動きは、レーザーと光検出器によって測定されます。カンチレバーは角度でオフセットされ、スキャン手順全体で少量の力を生成します。VEECO X-D3 AFMは、カンチレバーとサンプル表面の接触力の変化を測定する接触や、カンチレバーがアンロード状態で動作する非接触などのマルチモード機能と統合されています。接触モードでは、X-D3は、地形高さの変化、バンプ、空洞などのさまざまな種類の表面地形を正確に画像化して測定することができます。非接触モードは、摩擦や弾性率などの局所機械的特性の研究に最適です。X-D3には、高度な3Dイメージングのためのデジタルマイクロミラーデバイス（DMD）技術を組み込んだ新しい高解像度のDataCubeイメージングシステムも装備されています。このシステムは、従来の2Dイメージング手法よりも高い精度で、非常に詳細な画像を提供します。DataCubeのパワーは、複数の画像を組み合わせてモーションブラーを効果的に使用することで、従来のイメージングの解像度を上回る超解像イメージングによってさらに強化されています。このX-D3は、電流電圧（I-V）特性測定用にも最適化されており、電気抵抗または静電容量の遷移を迅速かつ正確に測定することができます。さらに、AFMにはPicoScan IVコントローラが内蔵されており、実験中にリアルタイムのフィードバックを提供し、ヒステリシス曲線や磁気ドメインなどのナノスケール特性をより良く測定できます。このAFMの柔軟性は、マイクロエレクトロニクス、バイオテクノロジー、半導体、データストレージ研究などの業界に最適です。