中古 BRUKER / VEECO Ultra Scan Control C #9098198 を販売中

BRUKER/VEECO Ultra Scan Control Cは、イメージング、分光、およびリソグラフィ用途における最先端の性能を提供するように設計された走査型電子顕微鏡（SEM）です。VEECO Ultra Scan Control Cは、高分解能イオン検出器と強力なソフトウェアを組み合わせて、金属、ポリマー、炭素ベースの材料を含むさまざまな材料の詳細な分析を提供します。BRUKER Ultra Scan Control Cは、収差カラムが低く、バックグラウンドノイズが少ないため、優れた画像解像度を提供します。装置のX-Yスキャン範囲は最大8mmで、X線放射、オーガー電子エネルギースペクトル、SEM元素画像などの分光情報を幅広く提供し、それぞれ0。5nmから10µmまでの倍率範囲で撮影することができます。Ultra Scan Control Cは、高精度のオートフォーカス・システムを備えており、サンプルの高さをわずかに変更する場合でも、補正フィードバックを提供することで画質を保証します。このシステムはまた、フィールドと倍率の深さ、およびZ軸に沿った動きに動的に調整することができます。さらに、幅広いサンプルホルダーを使用することができ、異なる形状の標本を研究することができます。BRUKER/VEECO ウルトラスキャンコントロールCは、同一サンプルのリピートスキャンを実行して統計分析を行うことができます。画像アライメント（ILA）機能により、非常に小さなドウェル時間で、可変標本の超高速イメージングが可能です。自動化されたILAは、再アライメントを必要とせずに複数のサンプルの正確なイメージングも保証します。さらに、高度な信号収集システムにより、研究者はデータを保存および分析するためのパラメータを変更することができます。ピーク検出やバレー検出などのソフトウェア機能により、気孔および粒度の迅速な測定、および表面粗さ測定が可能です。VEECO Ultra Scan Control Cには、ヒストグラム表示、ラベリング機能、2次元輪郭マップなど、強力な解析および評価ツールも用意されています。全体として、BRUKER Ultra Scan Control Cは、イメージング、分光、リソグラフィ用途に幅広い機能を提供する高度なSEMデバイスであり、さまざまな材料の詳細な分析を提供することができます。高解像度イオン検出器と強力なソフトウェア機能を組み合わせることで、さまざまな分野の研究者にとって理想的な機器です。