中古 BRUKER / VEECO MultiMode 8 #293602191 を販売中

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製造業者
BRUKER / VEECO
モデル
MultiMode 8
ID: 293602191
Atomic Force Microscope (AFM) Nanoscope V Controller Electro chemistry module Monitor PC Tip holders: Standard AFM Holder HR AFM Holder STM Holder Scanners: Picoforce 1B440-PF: Module Range: X / Y: 46.5 microns Z: 20 microns EV Liquid resist scanner: Range: X / Y: 17.6 microns Z: 3.81 microns 6595A Scanner: Range: X / Y: 1.24 microns Z: 0.66 microns.
BRUKER/VEECO MultiMode 8は、材料科学研究のための高度な可視化と分析機能の範囲を提供するように設計されたスキャンプローブ顕微鏡です。これは、原子力顕微鏡(AFM)および/または走査トンネル顕微鏡(STM)を含む一連の分析技術をモジュラープラットフォームで組み合わせたものです。顕微鏡は、ユーザーが超高解像度でサンプルの地形、電気、機械データをキャプチャすることができ、分析機能の広い範囲を備えています。AFMモードとSTMモードは、表面の機械的および電気的特性を測定するだけでなく、さまざまな材料の画像をナノメートルの解像度まで表示するために使用されます。これにより、研究者はサンプルの構造、組成、およびその他の物理的特性について貴重な洞察を得ることができます。VEECO MultiMode 8は、低温サンプル分析に使用でき、機械的に弱いサンプルの組成、構造、欠陥密度に関する情報を提供します。この装置には、その場でサンプル測定を行うための周囲環境と液体環境の両方が装備されています。液体環境は、複雑な液体または気体環境におけるサンプルの動的挙動を測定するために使用することができます。この顕微鏡システムは、無機と有機の両方の材料で動作します。BRUKER MultiMode 8の知的財産アーキテクチャは、ユニットに完全に統合されたカスタム測定戦略の開発をサポートします。これにより、研究者はユーザーのインタラクションを最小限に抑えながら、迅速かつ正確にデータを取得することができます。また、自動解析機能により、解析時間の短縮にも役立ちます。MultiMode 8はまた、効率的な分析のためにデータをすばやく分析して解釈するためのさまざまな可視化ツールを提供しています。2Dと3Dの両方のイメージングモードが含まれており、画像結果から目的のデータを抽出するための高度な信号処理アルゴリズムが装備されています。さらに、SEM、 TEM、透過電子顕微鏡などの幅広いラボ機器と組み合わせて使用することで、材料の性質や挙動についてのさらなる洞察を得ることができます。結論として、BRUKER/VEECO MultiMode 8は、高解像度のイメージングと幅広い機能を備えたさまざまな材料の分析を提供するように設計された高度なスキャンプローブ顕微鏡です。このツールには、より迅速で正確なサンプル分析を可能にする機能が装備されています。無機サンプルと有機サンプルの両方の特性評価に適しており、高度にカスタマイズ可能であり、カスタムデータ処理戦略を可能にします。その強力な可視化と信号処理ツールにより、データの迅速な分析と要約が可能になり、研究者は材料の挙動を包括的に把握できます。
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