中古 BRUKER / VEECO Icon 3 #9257586 を販売中

BRUKER / VEECO Icon 3
製造業者
BRUKER / VEECO
モデル
Icon 3
ID: 9257586
Atomic Force Microscope (AFM) Assembly E-box.
BRUKER/VEECO Icon 3は、ナノスケールのサンプル表面を分析するために使用されるスキャンプローブ顕微鏡(SPM)です。生物学、材料科学、半導体物理学、マイクロエレクトロニクスなど、さまざまな研究用途に使用できます。VEECO Icon 3は、走査型トンネル顕微鏡(STM)と原子力顕微鏡(AFM)を使用しています。BRUKER Icon 3は、サンプル分析のための幅広い機能を備えています。多種多様なナノ構造を容易に解析できるカメラを備えた高感度デジタルイメージング装置を備えています。また、高解像度のステージムーブメントシステムを備えており、高い精度でサンプル操作が可能です。Icon 3は、原子レベルの分解能でサンプルをイメージングすることができ、4Kの温度までの環境で測定することができます。Scanning tunneling microscopy (STM)は、サンプルの表面地形を測定するために使用される超高速導電プローブを使用した非侵襲画像技術です。サンプルは特殊プレートに取り付けられ、プローブはその表面をスキャンしながらサンプルを真空に保ちます。プローブがサンプルをスキャンすると、プローブとサンプル表面の間に生成される量子力が検出されます。得られたデータは、ナノスケールのレベルでサンプルの画像を作成するために収集され、使用されます。この方法により、原子レベルの解像度の画像や化学組成など、サンプルの特徴に関する詳細な情報を得ることができます。原子力顕微鏡(AFM)は、サンプル上の様々な点での力を測定するために、非常に細かい先端をサンプル表面にスキャンする技術です。この手法により、サンプルの表面上の特徴を約0。01ナノメートルの平面外分解能で可視化することができます。BRUKER/VEECO Icon 3は、複数のサンプルポイントを一度に追跡して表面の3D画像を取得することもできます。VEECO Icon 3には、研究者がサンプルの基本的な測定を行うことができる汎用ソフトウェアや、より具体的なソフトウェアパッケージなど、サンプル分析用のさまざまなツールとソフトウェアが含まれています。これらのソフトウェアパッケージは、サンプルのより深い分析を提供することができ、研究者はサンプルの電気的および熱的特性などの特性を調査することができます。要するに、BRUKER Icon 3は、幅広い機能を備えた高解像度スキャンプローブ顕微鏡です。高解像度のイメージングユニットとステージムーブメントマシンにより、科学者は原子レベルの分解能まで、高い精度でサンプルを研究することができます。Icon 3にはサンプル分析用のさまざまなソフトウェアパッケージがあり、ナノスケールレベルでの研究に欠かせないツールとなっています。
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