中古 BRUKER / VEECO Dimension Icon #293827010 を販売中

製造業者
BRUKER / VEECO
モデル
Dimension Icon
ID: 293827010
Atomic Force Microscope (AFM) X, Y Scan range: 90 μm x 90 μm, 85 μm Z Range: 10 μm, 9.5 μm Sample size / holder: 210 mm vacuum chuck Workstation: NanoScope 6, Stage controller, HV Amplifiers Acoustic isolation: With up to 85 dBC continuous acoustic noise Cables Air system controller PC Mouse Keyboard Monitor Spare parts Z Sensor noise level: 35 pm RMS 50 pm RMS force Vacuum sample chuck: 210 mm X and Y Axis Position stage: Rotating chuck: 180 mm x 150 mm Unidirectional: 2 μm Bidirectional: 3 μm Microscope optics: Digital camera: 5-Megapixel Viewing area: 180-1465 µm Digital zoom and Motorized focus.
BRUKER/VEECO Dimension Iconは、ナノスケール科学への前例のないアクセスを提供する最先端の原子力顕微鏡(AFM)です。この高度な画像処理装置は、ナノスケールの画像処理と生体試料や無機試料の特性評価を可能にすることにより、研究者に表面構造および特性の可能な限り最高の分解能を提供するように設計されています。柔軟なスキャンモードを備えた汎用性の高いスキャンヘッド、ユニークなサンプルアプローチ機器、強力な制御システムを備えています。VEECO Dimension Iconは、サンプル交換が容易な300mmの広い作動距離を持ち、絞りから5µmまでの対物レンズ設計を提供します。これにより、シャープなイメージング性能と最小限のサーマルドリフトを備えた小さな機能のイメージングが可能になります。計器のダイナミックレンジは最大15Nで、ノイズレベルは0。5ナノアンプよりも高く、解像度は100ピコメータです。この装置の高度なスキャンヘッドは、地形イメージングだけでなく、タッピングモード、横力顕微鏡(LFM)、 Zピエゾ変調スキャンも可能です。また、ヘッドには最大6µmscanning領域の9台のピエゾスキャナが搭載されており、高速スキャン速度で高解像度の画像を撮影することができます。BRUKER Dimension Iconは、顕微鏡光学に統合されたユニークなサンプルアプローチユニットを使用しています。この機械は10ナノメートルの決断のサンプルの精密な縦の位置を提供します。また、カンチレバーを必要とせずに直接表面接触測定を可能にし、研究の複雑さを大幅に低減します。ディメンションアイコンは、ユーザーフレンドリーなインターフェースを備えた高性能コンピュータによって制御されます。このツールは、スキャンパラメータとデータ取得を設定し、画像データを分析して保存するために使用されます。また、光学顕微鏡などの他の機器と容易に統合することができます。全体として、BRUKER/VEECO Dimension Iconは、ナノスケールの研究に比類のないパフォーマンスを提供する強力なイメージング機器です。柔軟なスキャンモード、ユニークなサンプルアプローチ、直感的な制御モデルにより、研究者はこれまでにないレベルの詳細な表面構造の特性を探ることができます。
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