中古 BRUKER / VEECO 450-GC #9353140 を販売中

BRUKER/VEECO 450-GC Scanning Electron Microscope （SEM）は、ナノスケールの表面構造および特徴のイメージングおよび分析を提供する、科学および工学研究で使用される強力なツールです。この統合された機器は、特許取得済みの電子光学系とBRUKER特許取得済みのサンプルプローブ技術を組み合わせ、X、 Y、 Zの両軸で最大1ミクロン分解能を実現します。BRUKER/VEECO/Veco VEECO 450-GC SEMは、特定の領域に焦点を当てた電子ビームで標本を照射して、標本表面の高倍率画像または特徴を生成することによって動作します。試料と相互作用する電子は、SEMによって検出された信号を生成し、表面構造を正確に表現します。この機器には、さまざまな画像取得モードを可能にする機能とアクセサリのフルスイートが装備されています。これには、後方散乱電子と二次電子の両方を収集するための二重検出器と、X線の分析のためのオプションの検出器が含まれています。BRUKER 450-GCには、可変抵抗を持つサンプルの電流電圧曲線をキャプチャする機能もあります。SEMが研究で非常に一般的に使用されている主な理由の1つは、表面や微細構造の異常を特定し定量化する能力です。高感度検出器は、低角度放射など様々なモードで動作し、ナノスケールの欠陥や亀裂の構造を画像化することができます。他のモードには回折モードがあり、機器は表面結晶構造を検出して分析することができます。450-GCはまた、粒子分析のための機能の広い範囲を持っています。ナノスケールで粒子の大きさ、形状、組成を分析できる統合粒子サイズ分析装置を備えています。また、ナノメートルサイズの粒子の組成と分子特性を調べるための粒子エネルギー損失分光検出器もあります。これらの強力なイメージングおよび分析機能に加えて、BRUKER/VEECO 450-GCには、サンプルを配置するための複数のステージが装備されています。傾斜した面を幅広い角度で撮影するための傾斜ステージと、大きな画像深度を達成したり、解像度を高めたりするための表示ステージを備えています。VEECO/Veco VEECO 450-GC SEMは、それぞれの分野の科学者やエンジニアにとって不可欠なツールです。イメージングと分析機能を組み合わせることで、可変倍率とデジタル解析を備えた高解像度画像を提供する、研究にとって貴重なツールとなります。