中古 BRUKER Dimension XR #293820697 を販売中

BRUKER Dimension XRは、ナノスケールのイメージングと解析に最先端の機能を提供する先端原子力顕微鏡（AFM）です。この高性能装置は、今日の研究および業界アプリケーションの要求に応えるように設計されており、優れた解像度、感度、柔軟性を提供し、幅広いイメージングおよび測定タスクに対応します。ディメンションXRには、市場に出回っている他のAFMシステムとは別に、さまざまな最先端の機能が搭載されています。この顕微鏡の主な特徴の1つは、ナノメートルスケールの精度で表面形状を可視化できる高解像度イメージング機能です。XRモデルは、X方向とY方向の両方で最大100マイクロメートルのスキャン範囲を誇り、広い範囲で詳細な画像をキャプチャすることができます。印象的なイメージング機能に加えて、BRUKER Dimension XRは、ユーザーが優れた感度で材料特性をプローブできる高度なスキャンモードを提供します。この機器には、接触モード、タッピングモード、非接触モードなど、複数のスキャンモードが装備されており、それぞれが異なるサンプルタイプと測定タスクに固有の利点を提供します。XRモデルはまた、PeakForce Tappingなどの高度なスキャン技術をサポートしており、難易度の高いサンプルの画像解像度と感度を向上させます。Dimension XRの特徴の1つは、AFM先端のライブビデオイメージングとスキャン中のサンプルを提供する統合された光学顕微鏡です。この機能により、AFM先端の正確なアライメントとスキャン領域の視覚的確認が可能になり、高品質の画像処理結果を容易に得ることができます。この光学顕微鏡を使用することで、サンプル表面に関心のある領域をすばやく特定し、セットアッププロセスを簡素化し、データ収集を合理化できます。BRUKER Dimension XRは、スキャンパラメータとイメージング設定を直感的に制御できるユーザーフレンドリーなインターフェイスを備え、最大限の汎用性と使いやすさを実現しています。このシステムは、半導体材料、ポリマー、生物学的サンプルなど、幅広い種類のサンプルと互換性があり、多様な研究および産業用途に適しています。XRモデルはまた、自動スキャン機能を備えており、手動による介入を必要とせずに効率的なデータ収集と分析を可能にします。Dimension XRは、イメージングおよび測定機能に加えて、AFM画像の定量分析を容易にする高度なデータ分析ツールを備えています。画像処理、表面粗さ解析、メカニカルプロパティマッピング用のソフトウェアパッケージを備えており、AFMデータから貴重な情報を迅速かつ簡単に抽出できます。高性能イメージング、高度なスキャンモード、直感的なユーザーインターフェースを組み合わせたBRUKER Dimension XRは、ナノスケールの研究開発のための強力なツールです。