中古 ZYGO NewView 6300 #293762939 を販売中

ZYGO NewView 6300は、半導体マイクロサーキットマスクおよび半導体ウェーハの正確な解析および欠陥分類を目的としたマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、生産および研究開発アプリケーションにおいて前例のない信頼性と精度を提供し、効率的かつ正確な欠陥の識別と分析を可能にします。このユニットは、特許取得済みのMulti-ViewTMイメージング技術を備えており、比類のない欠陥の可視性と分類を提供します。高度な照明技術を備えており、検査プロセスで使用される光の向き、強度、偏光を制御することができます。ZYGO NEW VIEW 6300では、リソグラフィ、蒸着、計測、薄膜、故障検査などの高精度もご用意しています。このマシンには、マスクまたはウェーハの欠陥を正確に特定できる自動欠陥解析ツールが装備されています。このアセットは、各欠陥の正確な位置、サイズ、特性を決定することができ、ユーザーはマスクまたはウェーハで発見された欠陥を簡単に識別および分類することができます。NewView 6300は、欠陥の検出、分類、測定、視覚化に使用できるさまざまな画像解析アルゴリズムも提供しています。微細なピッチライン幅や破線などの微妙な欠陥を正確に検出することができます。さらに、装置の異なるレベル間のオーバーレイ精度をチェックするために装置を使用することができます。このシステムは堅牢な構造を備えており、0〜40°Cの温度範囲で動作できます。また、作業領域の騒音や振動を低減するアイソレーションユニットを装備しています。NEW VIEW 6300の先進技術は、欠陥の識別と分析において最適なパフォーマンスを達成するために必要なツールをユーザーに提供します。この機械は、業界をリードする精度と信頼性を確保し、幅広い検査アプリケーションに最適です。