中古 ZYGO NewView 5000 #9307807 を販売中

ZYGO NewView 5000は、独自の技術を使用して、18nm以下の機能サイズの集積回路設計の欠陥とエラーを特定する最先端の高度なマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、6つの異なる検査方法を組み込んだ検眼測定プラットフォームを使用して、デバイス製造プロセス中のマスク層のレイアウトにおける欠陥または不適合を特定します。これらの方法には、レーザー干渉計、チャージカップリング装置（CCD）イメージング、分光法、トポグラフィ、CD/Width Measurement、 Focus-Variationなどがあります。ZYGO 5000は、大型ウエハや基板に対応する400mmチャックサイズを誇り、0。08umのサブピクセル解像度を持つ高解像度2Kx2Kイメージセンサーです。これにより、広域測定フィールドにおける正確なターゲットの位置決めと欠陥の特性評価が可能になり、各マスク層の最小欠陥を識別することができます。さらに、フォトマスク欠陥測定機能を活用し、マスク層の欠陥の非破壊画像や、幾何学的寸法、アスペクト比、コントラスト、欠陥サイズなどのパラメータの定量化を可能にします。NewView 5000は、高度で正確で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査ソリューションを必要とするデバイスファブやマスクショップに最適です。最先端の機能により、異なるデバイスノード要件に合わせてオプトメトリックプラットフォームを調整し、欠陥の特定と定量を迅速かつ効率的に行うことができます。また、検出された欠陥に関する詳細情報を提供し、計測データに簡単にアクセスできるユーザーフレンドリーで直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えています。データの保存と管理ができるため、トレーサビリティと品質保証が容易になります。5000は本当にイノベーターの夢です。その画期的な機能は、ユーザーがデバイスの製造に関しては運転席にいることを保証します。無制限のポテンシャルと最新技術を搭載したこのツールは、マスクとウェーハの検査方法に革命をもたらす可能性を秘めています。