中古 ZYGO Mark IV XPS #9262840 を販売中

ZYGO Mark IV XPSは、半導体メーカーが製造前後のマスク欠陥およびウェーハ欠陥を迅速かつ正確に評価できるように設計された高速、高解像度の光学イメージングおよび検査装置です。このシステムは、独自のXDISC検査技術を使用して、強力な可変視野顕微鏡を使用して、ユーザーに高倍率の機能を提供します。さらに、高度な光学イメージプロセッサを採用し、より高い情報収集速度と高精度を実現しています。ユニットの主な特徴は、最大解像度4,096 x 4,096ピクセルの24ビットの色分解能で画像を取得することができる、大判大画像解析カメラが含まれています。回折による画像劣化を低減しながら、優れた画質を実現します。さらに、特別に設計された画像処理アルゴリズムを使用して、欠陥を認識する際の画像の詳細と精度をさらに向上させます。Mark IV XPSは、さまざまな検査照明オプションを備えており、半導体ウェーハの粒子などの欠陥を迅速かつ正確に識別することができます。これらには、明るいフィールドと暗いフィールドの両方の照明だけでなく、偏光先端と顕微鏡の照明が含まれます。また、デュアルイメージングモードも利用可能で、ウェーハの前後を同時に撮影することができます。さらに、モーター付きの360度サンプルホルダーや低振動サンプルステージなど、さまざまな人間工学に基づいた機能が強化されています。これにより、検査されたすべてのウェーハで正確で反復可能な結果が保証されます。さらに、ZYGO Mark IV XPSにはさまざまな自動欠陥検出および解析機能が搭載されているため、ユーザーはウェーハを迅速かつ簡単に評価し、欠陥が存在するかどうかを判断できます。最後に、使いやすいインターフェイスで、Mark IV XPSは、ユーザーが自分の画像を処理し、その結果を分析することが容易になります。このツールには、さまざまな後処理機能も含まれており、ユーザーは設定を調整して画像の結果をさらに絞り込むことができます。これらの機能を利用することで、半導体ウェーハ内の粒子やその他の欠陥を迅速かつ正確に識別することができます。全体として、ZYGO Mark IV XPSは、欠陥を迅速かつ正確に分析するために設計された、堅牢で信頼性の高いマスクおよびウェーハ検査アセットです。高度な画像処理機能、人間工学に基づいた設計、自動検出機能により、ウェーハを迅速かつ正確に検査するユーザーに最適なツールです。