中古 ZYGO GPI-XP HR #9382317 を販売中

ZYGO GPI-XP HRは、重要なフォトリソグラフィーマスクとウェーハを正確に検査するために設計されたプロのマスクおよびウェーハ検査装置です。このシステムは、高度な検査および測定アルゴリズムを使用して、マイクロリソグラフィーウェハの特徴を検査および測定します。GPI-XP HRは、検査および測定ソフトウェアの堅牢なライブラリを誇り、ユニットは、最も要求の厳しい要件を満たすために、アプリケーションの広い範囲のために構成することができます。ZYGO GPI-XP HRには、Leica Opticsと高度なCCD技術を搭載した高解像度カメラマシン、最新のエレクトロニクスや画像処理システムが搭載されています。カメラツールは様々な用途に最適化でき、高速動作にも対応できます。多機能な2次元。カラーデジタル画像処理資産であるGPI-XP HR独自のイメージングエンジンにより、高速な検査速度と正確な画像キャプチャが可能です。このモデルには、強力な欠陥特性評価のための高度なソフトウェアツールが組み込まれており、迅速な欠陥分離と検出のプロセスを自動化しています。ZYGO GPI-XP HRの自動測定範囲（欠陥マッチング、臨界寸法（CD）測定、ラインプロファイル解析、コントラスト解析、エッジ検出、散乱測定、ピクセルサイズ、ライン幅など）。さらに、特定のパターンを識別し、微妙な欠陥を検出するためのパターン認識アルゴリズムを備えています。このシステムには、高度な注釈と欠陥レビューのためのモジュールと、カスタマイズ可能なテンプレートによる自動レポートも含まれています。GPI-XP HRは、OMRON IHI ChipVisionソフトウェアを含む、オートメーションプログラミングおよびウェーハパラメータ特性評価用の他の業界標準ソフトウェアとも互換性があります。また、ZYGO Z-Scope Modelなどのソフトウェアと統合され、高度な欠陥レビューが可能です。ZYGO GPI-XP HRは、マスクメーカー、IDM、およびOEMに最適で、業界をリードする検査および測定精度と組み合わせた高度なマスクおよびウェーハ検査機能を求めています。ユニットのモジュール設計は、最も要求の厳しいアプリケーション要件を満たすために仕様を可能にします。