中古 ZYGO F/3.3 #191694 を販売中

ZYGO F/3.3は、半導体製造工程のマスクやウェーハの形状精度や表面仕上げを測定するために使用されるマスク&ウェーハ検査装置です。このシステムは、サブナノメートルレベルの表面異常を検出するための非接触レーザー干渉計テクノロジーに基づいています。マスクやウェーハの表面の立体（3D）地形図をナノレベルの解像度でキャプチャすることができ、表面平坦度や非平坦形状の測定に最適です。ZYGO F/3.3の主な特徴は、その高精度と精度です。0。1ミクロンから5ミリメートルまでの調整可能なスキャン範囲を持ち、表面平坦度をサブナノメートルレベルの精度まで測定することができます。また、複数の表面領域にわたって再現可能な測定が可能であり、微妙な表面異常を検出することができます。このユニットには5軸のメカニカルプラットフォームがあり、異なる形状とサイズのマスクやウェーハに対応できます。さらに、ZYGO F/3.3には、表面の地形や平坦度を測定できる高精度光学計測機があります。ZYGO F/3.3は、半導体製造プロセスを効率化できる高効率の検査ツールです。高速スキャン機能を備えており、ユーザーは迅速かつ正確に結果を得ることができます。そのソフトウェアは、リアルタイムでアクセスできる単一のレポートにデータを統合することができます。このアセットは、既存の製造プロセス・ラインに簡単に組み込むことができ、ユーザーは中断を最小限に抑えてモデルを使用することができます。高精度で効率的なZYGO F/3.3は、使いやすさのために設計されています。直感的なユーザーインターフェイスにより、ユーザーは機器を迅速かつ簡単にセットアップできます。このシステムには、ユーザーの個々のニーズに合わせてカスタマイズできるさまざまな安全機能も含まれています。その堅牢な構造は、安定性と信頼性を提供し、それは非常に耐久性と信頼性を作ります。ZYGO F/3.3は、高精度な検査データを高速で提供できる高度なマスク&ウェーハ検査ユニットです。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと堅牢な構造により、半導体製造プロセスでの使用に最適です。ナノメートルレベルの表面異常を正確に検出することができ、高速スキャンとデータ統合機能により、製造プロセスを効率化するための効率的なマシンとなります。