中古 WITHLIGHT OPI-305 #9382260 を販売中

WITHLIGHT OPI-305は、マスクやウエハ基板の表面から粒子状汚染物質を検査・検出するために設計されたマスクおよびウェハ検査装置です。このシステムは、基板に埋め込まれた粒子と粒子の両方に高解像度のイメージングを提供します。OPI-305は、粒子の画像をキャプチャするためのレーザーダイオード光源を利用しています。キャプチャされた画像は、WITHLIGHT独自のデジタル画像処理アルゴリズムでデジタル解析されます。WITHLIGHT OPI-305は456x435ピクセルの高品質の画像解像度を提供します。粒子の最大分解能と感度を実現し、直径1。2ミクロンまでの粒子の検出が可能です。レーザダイオード光源は、基板上の発熱を最小限に抑え、低レベルの明るいフィールド照明を確保するように設計されています。OPI-305は、さまざまな倍率で同時にイメージングを可能にする高度な光学系を内蔵しています。これにより、高解像度の画像を高倍率で同時に複数の基板を検査することができます。このユニットはまた、パーティクル検出を容易にするダークフィールド照明を内蔵しています。WITHLIGHT OPI-305には高度な3Dイメージング機能が搭載されており、表面地形の3D再構築と解析により粒子状汚染物質を検出できます。また、柔軟でプログラム可能な検査プロトコルを備えており、異なる表面トポロジを持つ可能性のある複数の基板表面からの粒子状汚染物質の画像をキャプチャするために使用されます。OPI-305には直感的なユーザーインターフェイスが含まれており、操作とデータ分析が簡単に行えます。また、さまざまな検査および粒子検出タスクに使用できる、事前にプログラムされた検査プロトコルも多数含まれています。WITHLIGHT OPI-305の設計は、高い柔軟性と再現性で、繰り返し可能で信頼性の高い結果を保証します。直感的なユーザーインターフェイスとデジタル画像処理アルゴリズムにより、正確な検査結果が得られます。高解像度のイメージング、検出機能、3Dイメージングにより、マスクやウェーハ検査に最適なツールです。