中古 WITHLIGHT OPI-110 #9281914 を販売中

WITHLIGHT OPI-110 Mask&Wafer Inspection Equipmentは、さまざまな半導体材料の欠陥、欠陥、その他の不整合を検査するための完全なソリューションです。このシステムは、広い視野を持つ高解像度イメージングソリューションを提供し、さまざまな材料を正確かつ効率的に検査することができます。OPI-110は、明るいフィールドと暗いフィールドの両方のイメージングが可能なユニークなイメージング顕微鏡を備えています。この双眼顕微鏡の光路干渉計ユニットは、0。5 μ mと小さい特徴を観察するために簡単に調整することができ、製造業者は材料の欠陥、汚染、およびその他の汚染物を効果的に検出することができます。その高精度光学は、ユーザーに焦点をシフトするだけで素早く簡単にナビゲートできる高解像度画像を提供します。WITHLIGHT OPI-110はまた、検査プロセスの合理化とスピードアップを支援するように設計された自動ウェーハハンドリングマシンを備えています。軽量設計で簡単に設定・再配置が可能で、スムーズで正確なサンプルローディングが可能です。このアセットには高度なソフトウェア/ハードウェア統合も装備されており、ユーザーはモデルのパラメータを制御し、高解像度で画像をリアルタイムに視覚化することができます。光学検査に加えて、OPI-110はレーザービーム誘導電流（LBIC）イメージングにも使用できます。この技術により、材料の挙動の変化を最大6 μ mまで検出することができます。LBIC技術は、サンプル内の非均一な領域を検出することもでき、ユーザーに詳細なリアルタイム情報を提供します。WITHLIGHT OPI-110は、ウェーハとマスクの両方を検査する信頼性の高い効率的な手段を求めるあらゆる半導体メーカーにとって理想的なソリューションです。OPI-110は、高度なイメージング機能と自動サンプルハンドリング装置を活用することで、材料の欠陥、汚染などの不整合を正確かつ迅速に検出し、製品の品質を向上させることができます。