中古 VISTEC LWM9000 #293593050 を販売中

ID: 293593050
ウェーハサイズ: 6"
ヴィンテージ: 2005
CD Measurement system, 6" 2005 vintage.
VISTEC LWM9000マスクおよびウェハ検査装置は、半導体産業のために設計された自動光学検査システムです。フォトマスク、レチクル、ウェーハなど半導体関連部品の検査が可能です。検査装置は、高度な光学イメージングプラットフォームと高度なアルゴリズムを使用して、あらゆる種類の欠陥を検出します。LWM9000ツールの中核は、高品質の光学検査プラットフォームです。このプラットフォームは、近赤外線レーザーや高解像度のデジタルイメージング資産を含む高度な光学系を使用しています。このセットアップにより、マスクまたはウェーハの非常に明確なイメージが可能になります。光学イメージングプラットフォームには、低ノイズ測定を保証し、欠陥を検出するために必要な時間を短縮するための光学系も含まれています。VISTEC LWM9000には、欠陥を検出するための高度なアルゴリズムも多数搭載されています。これらのアルゴリズムは、タスクと検査対象の詳細に合わせて調整されているため、モデルは、ビア、ピット、アンダーサイズおよびオーバーサイズの欠陥、およびミスアライメントを含む最も一般的なタイプの欠陥をすばやく検出できます。LWM9000のユーザーインターフェイスは使いやすいように設計されています。インターフェイスは、タッチスクリーンディスプレイとして表示され、さまざまな設定とオプションを選択できます。これにより、ユーザーは特定のアプリケーションの機器をカスタマイズすることができます。VISTEC LWM9000には、自動検査機能に加えて、高度な統計解析ソフトウェアも搭載されています。このソフトウェアは、検出された欠陥に関する要約とレポートを自動的に生成するために使用でき、システムの他の機能と組み合わせて使用することができます。このソフトウェアは、検出された欠陥の種類とその量を確立し、是正措置をより迅速に実行できるようにすることもできます。LWM9000はフォトマスクやウェーハを素早く検査できる強力なユニットです。高品質の光学イメージングプラットフォームと高度なアルゴリズムは、さまざまな欠陥を迅速かつ正確に検出することができます。改善されたユーザーインターフェイスは容易なセットアップおよび使用を可能にし、統計分析ソフトウェアは点検された目的の詳細なレポートを提供することができる。
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