中古 VIKING / DYMATIX J-1 #9117519 を販売中

バイキング/DYMATIX J-1は、半導体製造業向けのマスクおよびウェハ検査装置です。高精度の光学検査、欠陥レビュー、臨界領域解析、金型回転、計測解析など、包括的な機能を提供します。このシステムは、バルクCMOS、 MEMS、イメージセンサデバイスなど、さまざまなウェハタイプの検査機能を提供します。2つの顕微鏡で構成された光学構造を持ち、複数のイメージングオプションが可能です。1つ目の顕微鏡は、ウェハ全体またはダイレベルの画像を表示するためのカラーTV顕微鏡であり、ダイ単位の欠陥状態です。2つ目の顕微鏡は、CDまたは線幅を識別する機能と、表面検査機能を提供します。独自の構成により、ステレオ（2D）とデジタル（3D）の機能を切り替えることができます。VIKING J-1はまた、自動アライメントとウェーハ抵抗測定を提供し、不要な手動操作を回避するのに役立ちます。さらに、高度な画像処理機能により、パターン化された領域とパターン化されていない領域の自動検出、検査、分析が可能になります。また、欠陥追跡および解析のためのダイ・マップ機能を相互に関連付ける機能や、プロセスによって引き起こされる欠陥や障害をスクリーニングする機能も備えています。最高の精度を確保するために、このユニットは独自の光学ピクセルアレイを使用して、イメージング性能を向上させ、閉塞を低減します。DYMATIX J-1マシンは、ユーザーの要件に合わせてアップグレードすることができます。高度なパターン認識アルゴリズムを誇り、あらゆるジョブの精度を向上させるように構成することができます。また、パラメトリックカラーマッピングやパターン認識などの包括的な欠陥解析パッケージも備えています。このツールには、インラインパターン最適化オプションを装備することができ、追加の光学アライメントツールを必要とせずに、アライメントとフォーカスの目視検査を可能にします。さらに、J-1アセットは、ますます厳しい品質基準を満たすように設計されています。フォトマスク、LCD/LCOS、スクライブライン、スルーホール、4面アラインメント、欠陥検出など、幅広いテストカバレッジを提供します。スループットレートが高く、高解像度のイメージングが可能で、完全なウエハ/ダイ解析のサイクルタイムを短縮できます。要約すると、VIKING/DYMATIX J-1はパワフルで高精度なウェーハおよびマスク検査モデルであり、欠陥解析と計測のための自動および手動機能を提供します。包括的な光学および画像処理機能、パターン認識アルゴリズム、インラインパターン最適化オプションを備えています。業界をリードする品質保証と信頼できる結果を提供するように設計されています。