中古 UENO SEIKI RT20T #293637995 を販売中

上野精機RT20Tは、幅広い半導体・オプトエレクトロニクス用途向けに設計されたマスク・ウェハ検査装置です。レーザー干渉計を使用して、マスクとウェーハエッジのプロファイルを正確に測定し、非常に厳しい業界要件を満たしています。RT20Tは、平均+3ミクロン、フルウェーハ表面で最小5ミクロンの精度で、マスクやウェーハの厚さなどの他のパラメータを測定することができます。このシステムは、マスクまたはウェーハ上の散乱、摩耗、浸食、およびその他の表面欠陥を検出し、対応するパラメータを測定するように特別に設計されています。強力な2048チャンネルレーザー干渉計は、上野精機RT20Tに統合されており、堅牢なプロファイル測定機能を提供します。信頼性と高度なバックグラウンド減算とピーク検索技術により、低レベルの光学ノイズの影響を低減します。ウエハー検査ソフトウェアが内蔵されており、オペレータは表面欠陥を検出し、レポートを印刷することができます。オプションの分析および情報保存機能を備えています。高度な画像処理アルゴリズムにより、データ分析時の速度と精度が向上します。ウエハ検査にも優れた機能をRT20Tています。ウエハプロファイルと線幅、厚さ、およびその他のパラメータを測定できます。高性能レーザーと振動補償機構を搭載し、高速かつ正確な測定と欠陥認識の向上を実現しています。上野精機RT20Tは、厳しい業界基準を満たすように設計された、費用対効果の高い高性能マスクおよびウェーハ検査機です。幅広い半導体デバイスやオプトエレクトロニクス機器に、信頼性の高い高速かつ正確な検査を提供します。高度な画像処理アルゴリズム、高速レーザー干渉計、およびウェーハ検査ソフトウェアの組み合わせにより、RT20Tはマスクおよびウェーハ検査に最適なソリューションです。