中古 TOPCON WM-7S #9280870 を販売中

TOPCON WM-7Sは、半導体およびフォトマスク基板の欠陥を検出および測定するために設計された、正確で信頼性の高いマスクおよびウェハ検査装置です。高解像度光学系を採用し、オペレータに優れたイメージング機能を提供し、マスク欠陥とウェーハ欠陥の両方を検査する際の精度を見直します。ユニットの心臓部は、わずか9秒の合計検査時間を可能にする高度なイメージプロセッサです。このプロセス中に、分割フィールドCCDカメラは、2つの異なる方向の欠陥を検出するために、マスクまたはウェーハ表面の2つの画像をキャプチャします。さらに、レーザースキャニングマシンは、サンプル表面上の光学系の広い視野と迅速な移動を可能にし、ツールの速度と効率をさらに向上させます。TOPCON WM 7Sのコントロールコンソールには、レビューパラメータの設定からアセットと外部測定ツールの統合まで、数多くの自動制御が搭載されています。これにより、さまざまな視線マーク、色収差、亀裂などの複雑な欠陥パターンの捕捉が容易になります。モデルを最大限に活用するために、WM-7Sは写真検査、ステンシルモード検出、欠陥グレーディングなどの高度な機能も提供しています。精度と感度の面では、装置は0。15 μ mまでの欠陥を検出することができ、幅広い業界アプリケーションでの使用に適しています。さらに、直感的なユーザーインターフェイス、包括的なWindows互換ソフトウェアパッケージ、組み込みデータ管理ツールなどの機能により、システムのユーザビリティがさらに向上します。WM 7Sは効率的で信頼性の高いマスク&ウエハ検査ユニットで、基板上のさまざまな欠陥の検出および測定に最適です。正確なイメージングと自動化されたコントロールにより、ユーザーは特定の検査要件に合わせた優れたマシンを提供できます。さらに、このツールはユーザビリティ、スピード、精度を念頭に置いて設計されており、あらゆるアプリケーションや本番環境に最適です。