中古 TOPCON WM 1500 #9053427 を販売中

TOPCON WM 1500
ID: 9053427
ヴィンテージ: 1997
Wafer surface inspection systems 1997 vintage.
TOPCON WM 1500は、先進的な半導体製造のために特別に設計された最先端のマスクおよびウェハ検査装置です。この高度に専門化されたシステムは、生産性を最大化し、最高品質の画像制御を保証するためのさまざまな機能を提供します。WM 1500は、高度な画像処理技術を搭載した高性能光学ビデオミクロスコープを搭載しています。この顕微鏡は、集積回路の製造に使用されているマスクやウエハに、リソグラフィなどの要求の厳しい光学検査用に設計されています。TOPCON WM 1500は、さまざまな高度なイメージングおよびサンプル分析技術を使用して、半導体デバイスの欠陥と機能の両方を正確、正確、かつ再現可能な検査を保証します。WM 1500ユニットはまた、強力で簡単にアクセスできるユーザーインターフェイスを提供します。このインターフェイスを使用すると、効果的な画像操作と分析のためのツールや機能にすばやくアクセスできます。これらのユーザーフレンドリーなインターフェイス機能には、さまざまな事前定義された検査テクニック、フルカラーキャリブレーション、および便利なフィーチャー表示機能が含まれます。この高度なマシンは、精度の範囲を提供するために、いくつかの精度、モータ駆動のスキャンステージとチルトステージを利用しています精度とスピードオプション。位置決めステージは、位置決め精度の絶対的な再現性を可能にする高性能サーボドライブ制御によって制御されます。TOPCON WM 1500は25xと100xの倍率に対応可能で、工具内のステージでは直径300mmまでのウェーハが可能です。また、WM 1500は自動マッピングを使用して、複数のウェーハまたはウェーハロット全体を迅速に同期スキャンします。TOPCON WM 1500アセットは、RGBとモノクロのアナログCCDカメラの両方をサポートできます。このモデルは、TIFF、 JPEG、 BMP、 PCXなど、さまざまな画像フォーマットをキャプチャして操作することもできます。WM 1500機器は、高度な欠陥および特徴解析および欠陥ラベリングのための高度なソフトウェアアルゴリズムを提供します。これらのアルゴリズムにより、自動欠陥検出と分類、定量メトリックによる真の欠陥検出、柔軟な欠陥分類システム、さまざまな便利な形式の欠陥ラベル付けが可能になります。つまり、TOPCON WM 1500は、高度な半導体デバイスを正確に検査するための優れた画像制御とユーザーフレンドリーなソフトウェアを提供する高度なマスクおよびウェーハ検査システムです。この洗練されたユニットは、集積回路の製造において要求の厳しい光学検査に最適です。
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