中古 TOPCON Vi-SW150 #293830435 を販売中

TOPCON Vi-SW150は、最先端のパターンや構造においても高精度な画像・解析を実現する次世代マスク・ウェハ検査装置です。このシステムは、広範囲の角度と周波数での高解像度イメージングとスキャンにより、比類のない精度と歩留まりを提供します。Vi-SW150は、405〜633ナノメートルの波長範囲を持つ2つの個別に制御可能なレーザー光源を備えており、視野の調節可能な照明を容易にすることができます。また、顕微鏡の目的は、検査対象のパターンや欠陥サイズに応じて、5倍から2000倍までの広い倍率レベルを達成することができます。また、X軸とY軸に沿った自動スキャンを可能にするオンボードポジショニングユニットを備えています。TOPCON Vi-SW150には、スキャンした画像を測定および処理するための高度なイメージングソフトウェアも搭載されています。ソフトウェアは、欠陥を検出し、特性評価するために、データの迅速な分析を可能にする次世代のリアルタイムオペレーティングマシン上で動作します。1ナノメートル以上の微小欠陥とマクロ欠陥の両方を検出して拒否することができます。Vi-SW150は、さまざまな業界のさまざまなアプリケーションに使用されるように設計されています。特に半導体業界では、製造工程において重要なマスク検査やウェーハ分析に使用することができます。プリント基板、フォトマスク、その他の印刷材料の検査にも最適です。TOPCON Vi-SW150は、操作が簡単で直感的で、最新の業界標準に準拠しています。それに資産およびオペレータが常に安全保たれるように設計されている完全に統合された環境制御および安全用具があります。また、モジュール式で拡張性があり、柔軟な構成と既存の生産ラインへの容易な統合を可能にします。全体として、Vi-SW150は高度で信頼性の高い自動マスクおよびウェーハ検査モデルであり、ファインパターンおよび欠陥の完全かつ正確な認識、検出、および分析を提供します。それは容易に作動するように設計され、時間節約および費用効果が大きい解決を広い範囲の適用に提供できます。